PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Studies of polymer surface topography by means of optical profilometry

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
The optical reflection measurements of polyvinylocarbazole (PVK) and polyazomethine (PPI) thin films have been done by means of optical profilometry (OP) exhibiting many advantages in surface and subsurface investigations. The obtained OP images clearly demonstrate that the thickness of the polymer films under investigation is not uniform over their lateral dimensions. For the PVK thin film, the fast Fourier transform (FFT) in the inverse space of the OP image is also presented along with distribution of the surface highs.
Słowa kluczowe
Czasopismo
Rocznik
Strony
767--772
Opis fizyczny
Bibliogr. 7 poz.
Twórcy
autor
autor
autor
  • Institute of Physics, Cracow University of Technology, ul. Podchorążych 1, 30-084 Kraków, Poland
Bibliografia
  • [1] ŁUŻNY W., STOCHMAL-POMARZAŃSKA E., PROŃ A., Structural properties of selected poly(azomethines),Polymer 40(23), 1999, pp. 6611–6614.
  • [2] JAGLARZ J., KASSIBA A., ARMATYS P., POKŁADKO M., GONDEK E., SANETRA J., Polymeric photovoltaic devices, Materials Science–Poland 22(4), 2004, pp. 389–395.
  • [3] STOVER J.C., Optical Scattering: Measurement and Analysis, SPIE Press, Bellingham, 1995.
  • [4] JIAMIN ZHOU, JING SHENG, Small angle light backscattering of polymer blends: 1. Multiple scattering,Polymer 38(15), 1997, pp. 3727–3731.
  • [5] ZIĘBA Ł., JAGLARZ J., DĄBROWSKI M., DURAJ R., CISOWSKI J., JURUSIK J., Surface topography investigations of TiN layers on different substrates, Reviews on Advanced Materials Science 15(1),2007, pp. 63–68.
  • [6] ZAHOUANI H., VARGIOLU R., KAPSA PH., LOUBET J.L., MATHIA T.G., Effect of lateral resolution on topographical images and three-dimensional functional parameters, Wear 219(1), 1998,pp. 114–123.
  • [7] STOVER J.C., SERATI S.A., GILLESPIE C.H., Calculation of surface statistics from light scatter, Optical Engineering 23, 1984, p. 4
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPW7-0014-0025
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.