PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
Tytuł artykułu

Morphology, structural and absorption studies on gallium nitride powder

Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
A simple method of synthesis of nanocrystalline GaN powders is presented. The morphology and structure of the powders was characterized by XRD and TEM methods. It was observed that the sizes of single grains of gallium nitride depend on parameters of the technological process. Using the Sherrer's rule, the sizes of crystallites were determined to be in the range of 14-33 nm. It was found that a and c parameters of hexagonal gallium nitride slightly depend on the crystallite size. Changes of the absorption edge and Urbach energies are presented.
Słowa kluczowe
Wydawca
Rocznik
Strony
235--240
Opis fizyczny
Bibliogr. 21 poz.
Twórcy
autor
  • Institute of Physics, Wrocław University of Technology, Wybrzeże Wyspiańskiego 27, 50-370 Wrocław, Poland
autor
  • Institute of Low Temperature and Structure Research, Polish Academy of Sciences, P.O. Box 1410, 50-950 Wrocław 2, Poland
  • Institute of Low Temperature and Structure Research, Polish Academy of Sciences, P.O. Box 1410, 50-950 Wrocław 2, Poland
autor
  • Institute of Physics, Wrocław University of Technology, Wybrzeże Wyspiańskiego 27, 50-370 Wrocław, Poland
Bibliografia
  • [1] ALDABERGENOVA S.B., OSVET A., FRANK G., STRUNK H.P., TAYLOR P.C., ANDREEV A.A., J. Non -Cryst. Solids, 299 (2002), 709.
  • [2] LEE D.S., STECKL A.J., Appl. Phys. Lett., 81 (2002), 2331.
  • [3] HUI R., TAHERION S.,WAN Y., Appl. Phys. Lett., 82 (2003), 1326.
  • [4] MURALI A.K., LEPPERT V.J., RISBUD S.H., Mat. Sci. Eng., B76 (2000), 206.
  • [5] KIM J.H., HOLLOWAY P.H., Appl. Phys. Lett., 84 (2004), 711.
  • [6] VAN DE WALLE C.G., Phys. Rev., B68 (2003), 165209.
  • [7] LESZCZYNSKI M., TEISSEYRE H., SUSKI T., GRZEGORY I., BOCKOWSKI M., JUN J., POROWSKI S., PAKULA K., BARANOWSKI J.M., FOXON C.T., CHENG T.S., Appl. Phys. Lett., 69 (1996), 73.
  • [8] SONG Y., J. Cryst. Growth, 247 (2003), 275.
  • [9] KIM B.C., SUN K.T., PARK K.S., IM K.J., NOH T., SUNG M.Y., KIM S., NAHM S., CHOI Y.N., PARK S.S., Appl. Phys. Lett., 80 (2002), 479.
  • [10] SENTHIL KUMAR M., Mat. Chem. Phys., 77 (2002), 341.
  • [11] KAMLER G.,ZACHARA J., PODSIADŁO S.,ADAMOWICZ L.,GĘBICKI W., J. Cryst. Growth, 212 (2000), 39.
  • [12] SARDAR K., RAJU A.R., SUBBANNA G.N., Sol. State Com., 125 (2003), 355.
  • [13] KISAILUS D., CHOI J.H., LANGE F.F., J. Cryst. Growth, 249 (2003), 106.
  • [14] JIAN J.K., CHEN X.L., HE M.,WANG W.J., ZHANG X.N., SHEN F., Chem. Phys. Lett., 368 (2003), 416.
  • [15] PEARTON S.J., REN F., ZHANG A.P., LEE K.P., Mat. Sci. Eng., R30 (2000), 55.
  • [16] NYK M., JABŁOŃSKI J.M., STRĘK W.,MISIEWICZ J., Opt. Mat., 26 (2004), 133.
  • [17] KLUG P., ALEXANDER L.E., X-ray Diffraction Procedure, Wiley, New York, 1954.
  • [18] GARCIA R., HIRATA G.A., FARIAS M.H.,MCKITTRICK J., Mat. Sci. Eng., B90 (2002), 7.
  • [19] BENTOUMI G., DENEUVILLE A., BEAUMONT B., GIBART P., Mat. Sci. Eng., B50 (1997), 142.
  • [20] AMBACHER O., RIGER W., ANSMANN P., ANGERER H., MOUSTAKAS T.D., STUTZMANN M., Solid State Comunn., 97 (1996), 365.
  • [21] JACOBSON M.A.,NELSON O.V.,ROMANOVSKII S.O.,HATZOPOULOS Z., J. Cryst. Growth, 230 (2001), 459.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPW7-0003-0024
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.