Stałość czasowa wzorców rezystancji zrealizowanych z precyzyjnych rezystorów warstwowych

• Autorzy: Bartoszewski J. , Kolasa J.

Warianty tytułu

EN

Time stability of resistance standards made of precision thin-layer resistors

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Stałość czasowa jest ważnym czynnikiem oceny jakości wzorców. Wzorce rezystancji najwyższej jakości są wykonywane z drutów, taśm lub prętów, najczęściej manganinowych. Właściwości takich wzorców są dobrze poznane. Wzorce rezystancji gorszej jakości mogą być wykonywane z produkowanych na masową skalę precyzyjnych rezystorów warstwowych. Stałość wartości tych rezystorów zależy zarówno od materiału i technologii wykonania warstwy rezystancyjnej jak i od warunków przechowywania rezystorów, parametrów procesu sztucznego starzenia i stosowanych obciążeń prądowych w czasie eksploatacji. Ze względu na znaczną różnorodność typów i technologii wykonań stałość rezystancji rezystorów warstwowych nie jest do końca poznana. W artykule przedstawiono wyniki badań doświadczalnych zmian czasowych rezystancji modeli wzorców zrealizowanych z rezystorów warstwowych metalizowanych. Podano wnioski dotyczące przydatności tych rezystorów do budowy aparatury pomiarowej - wzorców rezystancji, dzielników napięć, itp.

EN

Time stability is the important factor of quality assessment of standards produced from manganin wires, tapes and rods. Properties of these standards are known well. Resistance standards that are worse quality can be made of thin-layer precision resistors produced on large scale. The stability factor of these resistors are depend on materials, technology of making resistor thin layer, condition of storage, parameters of artificial ageing, and applied current in time of exploitation. With regard of considerable variety of types and technology of manufacturing the stability of resistance of thin-layer resistors are not known.

Słowa kluczowe

PL

wzorzec rezystancji; rezystor warstwowy; stabilność czasowa

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
• Czasopismo: Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Politechniki Wrocławskiej. Studia i Materiały
• Rocznik: 2004
• Tom: Vol. 56, nr 24
• Strony: 493--496
• Opis fizyczny: Bibliogr. 3 poz., rys.

Twórcy

autor

Bartoszewski J.

• Politechnika Wrocławska, Instytut Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych, 50-372 Wrocław, ul. Smoluchowskiego 19

autor

Kolasa J.

• Politechnika Wrocławska, Instytut Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych, 50-372 Wrocław, ul. Smoluchowskiego 19

Bibliografia

• [1] BARRTOSZEWSKI J., KOLASA J., Precyzyjne rezystory warstwowe - aspekty stałości czasowej, Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Politechniki Wrocławskiej nr. 54, Seria Studia i Materiały nr 23, Zagadnienia maszyn, napędów i pomiarów elektrycznych, Wrocław, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2003, 322-327.
• [2] STALBOVSKIJ V. V., ČETVERTKOV I.I., Rezistory, Moskva, Sovetskoje Radio, 1973, 62 s.
• [3] Katalog: Krakowskie Zakłady Elektroniczne Telpod - rezystory, Kraków, 1994.