Powiadomienia systemowe
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
Abstrakty
The effect of thickness variation and the surface roughness of amorphous Zn/sub 32/P/sub 68/ thin films has been investigated by the interference spectroscopy of the optical transmittance and reflectance, as well as by the atomic force microscopy (AFM). The analysis of the optical data allowed determination of the standard deviation of the thin film thickness by taking into account the Gaussian distribution of the change in phase of radiation traversing a thin film. It appears that the value of the standard deviation of the film thickness determined from the optical interference spectroscopy ( sigma /sub w/ approximately=26 nm) is comparable with the value of the mean surface roughness (R/sub a/ approximately=19 nm) evaluated from the AFM studies.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
93--101
Opis fizyczny
bibliogr. 20 poz.
Twórcy
autor
autor
autor
autor
- Polska Akademia Nauk, Centrum Chemii Polimerów, skr. poczt.20, 41-819 Zabrze, ul. M. Curie-Skłodowskiej 34 Title
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPW3-0009-0061