Rare earth oxide films: their preparation and characterization

• Autorzy: Wiktorczyk T.
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Summarises the results of our investigations dealing with preparation of rare earth oxide films and examinations of their physical properties. Different deposition methods have been applied for fabrication of these films and rare-earth-oxide-based thin film coatings. The main results concerning film microstructure and optical properties in the wavelength range from the UV up to the IR are presented. Electrical and dielectric studies have been carried out in the time domain and in the frequency domain (from very low frequencies up to radio frequencies) for selected rare earth oxides. MIM sandwich-type structures have been fabricated for this aim. Trapping levels in these oxides have been investigated. The complex impedance diagnostics was applied to the analysis of the volume of the R/sub 2/O/sub 3/ film and interfacial properties (metal/insulator barriers) of M/R/sub 2/O/sub 3//M thin film structures.

Słowa kluczowe

EN

antireflection coatings; capacitance; dielectric thin films; electrical conductivity; infrared spectra; optical properties; permittivity; rare earth compounds; refractive index; thermally stimulated currents

PL

warstwa przeciwodblaskowa; reaktancja pojemnościowa; dielektryk cienkowarstwowy; przewodnictwo elektryczne; widma w podczerwieni; właściwości optyczne; przenikalność elektryczna; związki ziem rzadkich; współczynnik załamania

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
• Czasopismo: Optica Applicata
• Rocznik: 2001
• Tom: Vol. 31, nr 1
• Strony: 5--33
• Opis fizyczny: bibliogr.117 poz.

Twórcy

autor

Wiktorczyk T.

• Instytut Fizyki Politechniki Wrocławskiej, Wybrzeże Wyspiańskiego 27, 50-370 Wrocław