Tunable axial resolution in confocal scanning microscopy by controlled symmetrical defocusing.

• Autorzy: Martinez-Corral M , Kowalczyk M. , Kowalczyk M. , Andres P.
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

There is presented a quite simple technique for improving the axial resolution capacity of confocal scanning microscopes without detriment to their transverse resolution. The technique, that is based in the equal contribution to the image of the illuminating and collecting lenses, consists in symmetrical defocusing of both parts of the imaging system.

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
• Czasopismo: Optica Applicata
• Rocznik: 1998
• Tom: Vol. 28, nr 3
• Strony: 213--225
• Opis fizyczny: Bibliogr. 13 poz., rys. 12

Twórcy

autor

Martinez-Corral M

autor

Kowalczyk M.

autor

Kowalczyk M.

autor

Andres P.

• Departamento de Optica, Universidad de Valencia 46100 Burjassot, Spanin.