Powiadomienia systemowe
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
Abstrakty
The Surface Photovoltage technique has been recently employed for chemical and biological sensing. Selected chemical and biological species deposited on the crystalline silicon surface introduced surface barrier changes that were detected using the non-contact Surface Photovoltage mode. The magnitude of the surface barrier modifications provided a unique signature of the sensed species. The simplicity and sensitivity of this technique offer an exciting opportunity for a new type of low cost sensing devices.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
653--661
Opis fizyczny
Bibliogr. 25 poz., rys.
Twórcy
autor
autor
autor
- Hewlett-Packard Laboratories, 1501 Page Mill Road, Palo Alto, California 94304, USA, chris.nauka@hp.com
Bibliografia
- [1] SCHRODER D.K., Meas. Sci. Technol., 12 (2001), R16.
- [2] KRONIG L., SHAPIRA Y., Surf. Sci. Reports, 37 (1999), 1.
- [3] GATOS H.C., LAGOWSKI J., J. Vac. Sci. Technol., 10 (1973), 130.
- [4] SZARO L., REBISZ J., MISIEWICZ J., Appl. Phys. A, 69 (1999), 409.
- [5] LAGOWSKI J., EDELMAN P., DEXTER M., HENLEY W., Semicond. Sci. Technol., 7 (1992), A185.
- [6] LAGOWSKI J., EDELMAN P., [in:] Proc. 7th Intern. Conf. Defects Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII), Templin, Germany, September 1997.
- [7] NAUKA K., [in:] Semiconductor Characterization: Present Status and Future Needs, AIP Press, 1996, p. 231–236.
- [8] NAUKA K., Microelectron. Eng., 36 (1997), 351.
- [9] NAUKA K., KAMINS T.I., J. Electrochem. Soc., 146 (1999), 292.
- [10] KAMINS T.I., NAUKA K., WILLIAMS R.S., Appl. Phys. A, 73 (2001), 1.
- [11] LI Z., CHEN Y., LI X., KAMINS T.I., NAUKA K., WILLIAMS R.S., NanoLett., 4 (2004), 245.
- [12] BURIAN J.M., Chem. Rev., 102 (2002), 1271.
- [13] ASHKENASY G., CAHEN D., COHEN R., SHANZER A., VILAN A., Acc. Chem. Res., 35 (2002), 121.
- [14] ADAMOWICZ B., MICZEK M., BRUN C., GRUZZA B., HASEGAWA H., Thin Solid Films, 436 (2003), 101.
- [15] NICOLAS D., SOUTEYRAND E., MARTIN J.R., Sensors Act. B, 44 (1997), 507.
- [16] ZHOU H-S., YAMADA T., ASAI K., HONMA I., UCHIDA H., KATSUBE T., Jpn. J. Appl. Phys., 40 (2001), 7098.
- [17] NAUKA K., LI Z., KAMINS T.I., Proc. 27th Intern. Conf. Physics of Semiconductors (ICPS-27), Flagstaff, Arizona, July 2004, AIP Press 2005, pp. 1577–1578.
- [18] KAMINS T.I., NAUKA K., Electrochem. Sol. St. Lett., 1 (1998), 100.
- [19] SPV system, model CMS-III A/R; Semiconductor Diagnostics, Inc., Tampa, FL.
- [20] SUNG M.M., KLUHT J., YAUW O.W., Langmuir, 13 (1997), 6164.
- [21] MONCH W., [in:] Semiconductor Surface and Interfaces, Springer-Verlag, 1996.
- [22] SEKER F., MEEKER K., KUECH T.F., ELLIS A.B., Chem. Rev., 100 (2000), 2505.
- [23] SIEVAL A.B., DEMIREL A.L., NISSINK J.W.M., LINFORD M.R., VAN DER MAAS J.H., DE JEU W.H., ZUILHOF H., SUNDHOLTER E.J., Langmuir, 14 (1998), 1759.
- [24] ZHANG L., WESLEY K., JIANG S., Langmuir, 17 (2001), 6275.
- [25] FRITZ J., COOPER E.B., GAUDET S., SORGER P.K., MANALIS S.R., Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A., 99 (2002), 14142.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPW1-0022-0034