Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Evaluation of contact quality by X-ray microanalysis method.
Konferencja
III Konferencja Naukowa: Postępy w Elektrotechnologii, Szklarska Poręba, 8-11 września 1998r.
Języki publikacji
Abstrakty
Postępujący rozwój metod badawczych struktury materiałów umożliwia bezpośrednią ocenę jakości materiału bez prowadzenia długotrwałych a przez to kosztownych badań eksploatacyjnych czy starzeniowych. Aparatura stosowana w tych badaniach jest również kosztowna, jednak dzięki wydatnemu skróceniu czasu badań przyczynia się do obniżenia ich kosztów. Często również, jak w tym przypadku, jest jedyną metodą mogącą efektywnie ocenić przyczynę nieprzewidywalnego zachowania się wyłączników ze stykami o pokryciu galwanicznym, a wynikłego z zanieczyszczenia kwarcem.
The modern methods of structure investigation enable to avoid long - lasting, and due to it expensive, ageing examinations of materials. What more, for some cases it is the only way to diagnosis the reason and sort of the failure. X-ray investigations of galvanic Ag covered contacts show that reason of their failures was pollution with quartz grains.
Rocznik
Tom
Strony
61--64
Opis fizyczny
Bibliogr. 0 poz., rys. 4
Twórcy
autor
autor
autor
autor
- Instytut Elektrotechniki Oddział Technologii i Materiałoznawstwa Elektrotechnicznego we Wrocławiu
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPW1-0003-0055