Two-stage algorithm for soft fault diagnosis in analog dynamic circuits

• Autorzy: Korzybski M.

Warianty tytułu

PL

Dwustopniowy algorytm lokalizacji oraz identyfikacji uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach dynamicznych

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper deals with the soft fault diagnosis in analog dynamic circuits. The two-stage algorithm for soft fault location and identification has been presented. It is based on the spectrum analysis of the circuit response to the rectangular input signal, a neural network and one of the new evolutionary techniques - gene expression programming. The first stage enable us fault location using neural network. The result of the second stage is fault identification performed with formulas derived using gene expression programming. The method is illustrated with a numerical example.

PL

Tematem pracy jest diagnostyka uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach dynamicznych. Przedstawiony jest dwustopniowy algorytm lokalizacji oraz identyfikacji uszkodzeń parametrycznych bazujący na analizie widmowej odpowiedzi układu na prostokątny sygnał wejściowy. Pierwszy stopień realizuje lokalizację uszkodzenia wykorzystując sieć neuronową. Wynikiem drugiego jest identyfikacja, którą umożliwiają zależności wyznaczone przez ewolucyjny algorytm programowania wyrażeń genetycznych.

Słowa kluczowe

EN

soft fault diagnosis; neural networks; gene expression programming

PL

diagnostyka uszkodzeń parametrycznych; sieci neuronowe; metoda programowania wyrażeń genetycznych

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2011
• Tom: R. 87, nr 5
• Strony: 74--76
• Opis fizyczny: Bibliogr. 14 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Korzybski M.

• Technical University of Lodz,

Bibliografia

• [1] Bandler J. W., Salama A. E., Fault diagnosis of analog circuits, Proceedings IEEE, vol.73 (1981), 1279-1325
• [2] Ozawa T., Analog Methods for Computer Aided Analysis and Diagnosis, New York, USA: Marcel Dekker, 1988
• [3] Liu D., Starzyk J.A., A generalized fault diagnosis method in dynamic analog circuits, International Journal of Circuit Theory and Applications, vol.30 (2002), 487-510
• [4] Sen N., Saeks R., Fault diagnosis for linear systems via multifrequency measurement, IEEE Transaction on Circuits and Systems, vol.26 (1979), 457-465
• [5] Aminian F., Aminian M., Collin H.W., Analog fault diagnosis of actual circuits using neural networks, IEEE Transactions on Instrumentation and Measurements, vol.51 (2002), 544-550
• [6] Rutkowski J., Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych, Warszawa, Polska: Wydawnictwa Komunikacji I Łączności, 2003
• [7] Tadeusiewicz M., Hałgas S., An algorithm for multiple fault diagnosis in analogue circuits, International Journal of Circuit Theory and Applications, vol.34 (2006), 607-615
• [8] Tadeusiewicz M., Korzybski M., A method for fault diagnosis in linear electronic circuits, International Journal of Circuit Theory and Applications, vol.28 (2000), 245-262
• [9] Cannas B., Fanni A., Manetki S., Montisci A., Piccirill i M.C. , Neural network-based analog fault diagnosis using testability analysis, Neural Comput & Applic, 13 (2004); 288-298
• [10] Tadeusiewicz M., Hałgas S., Korzybski M., An algorithm for soft-fault diagnosis of linear and nonlinear circuits, IEEE Transaction on Circuits and Systems-I, vol.49 (2002), 1648-1653
• [11] Golonek T., Grzechca D., Rutkowski J., Evolutionary metod for test frequences selection based on entropy index and ambiguity sets, International Conference on Signals and Electronic Systems ICSES’06 (2006), 511-514
• [12] Ferreira C., ”Gene expression programming: a new adaptive algorithm for solving problem”, Complex Systems, vol.13, no. 2, 87- 129
• [13] Korzybski M., Dictionary Method for Multiple Soft and Catastrofic Fault Diagnosis Based on Evolutionary Computation, Proceedings of International Conference on Signals and Electronic Systems – ICSES 2008, pp. 553-556
• [14] Kamińska B., Arabi K., Bell I., Goteti P., Huertas J.L., Kim B., Rueda A., Soma M., Analog and Mixed-Signal Benchmark Circuits – First Release, Proceedings International Test Conference, 1997