Measurement setup with dual channel simultaneous sampling A/D converter - uncertainty of jitter estimation

• Autorzy: Jóśko A. , Olędzki J.

Warianty tytułu

PL

Niepewność oszacowania szumu fazowego w dwukanałowym układzie pomiarowym z przetwornikami A/C

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Dual channel sampling measurement methods for calculating such parameters as power, phase angle or impedance are highly affected by the jitter of the A/D converter. Thus it is necessary to determine this parameter in the validation procedure of a particular measurement method using chosen set of analog to digital converters or data acquisition card. The article discuses analysis results and practical findings based on research carried out.

PL

W dwukanałowych pomiarach próbkujących duży wpływ na niepewność wyznaczenia wielkości takich jak moc, kąt fazowy, czy impedancja, może wywierać szum fazowy (jitter) układu próbkowania. Wyznaczenie jego wartości jest zatem niezbędnym krokiem przy walidacji danej metody pomiarowej z zastosowaniem wybranego zestawu (karty) przetworników analogowo-cyfrowych. Referat przedstawia wyniki analizy i praktyczne wnioski z przeprowadzonych badań.

Słowa kluczowe

EN

dual channel analog-digital conversion; jitter; phase noise

PL

przetwarzanie analogowo-cyfrowe dwukanałowe; jitter; szum fazowy

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2011
• Tom: R. 87, nr 5
• Strony: 62--65
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys.

Twórcy

autor

Jóśko A.

autor

Olędzki J.

• Warsaw University of Technology,

Bibliografia

• [1] Howe O. A., Allan O. W., Barnes J. A., Properties of signal sources and measurement methods. Proceedings of the 35th Annual Symposium on Frequency Control, 1981.
• [2] Langard Y., Balat J. L., Durand J., An improved method of ADC jitter measurement, Proc. IEEE Int. Test Conf., 1994, pp. 763–770.
• [3] Rosing R., Kerkhoff H. G., Tangelder R. J. W. T., Sachdev M., Off-Chip Diagnosis of Aperture Jitter in Full-flash Analog-to-Digital Converters, Proceedings of the IEEE European Test Workshop, May 27-29, 1998, Sitges, Barcelona, Spain, pp. 72-77
• [4] Tangelder R. J. W. T., Vries de, H., Rosing, R.. Kerkhoff, H.G., Sachdev M. (1999) Jitter and Decision-level Noise Separation in A/D Converters. 16th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC 1999, 24-26 May 1999, Venice, Italy.
• [5] Papantonopoulos I., Zanchi A., A Standardized Procedure for the Direct Measurement of Sub-Picosecond RMS jitter in High-Speed Analog-to-Digital Converters, SLWA036 June 2004, http://focus.ti.com/lit/an/slwa036/slwa036.pdf
• [6] Kyriais G.A., Campos M.L.R., An algorithm for accurately estimating the phase shifts between harmonics of two voltage signals using asynchronous sampling, CPEM 2004
• [7] Gallo, D.; Langella, R.; Testa, A., Desynchronized processing technique for harmonic and interharmonic analysis, IEEE Trans. Power Delivery, 19 (2004), No. 3, pp 993-1001
• [8] Mirri D., Iuculano G., Pasini G., Filicori F., Performance Function for Time-Jittered Equi-spaced Sampling Watt-meters, IEEE Trans. IM, 44 (1995), No. 3, pp 671-674
• [9] Espel P., Poletaeff A., Sampling techniques applied to power and quality of energy measurements at LNE. 14 Congrès international de METROLOGIE, Paris 2009
• [10] Jóśko A., Olędzki J., Phase noise in dual channel simultaneous sampling voltmeter measurement methods, Proc. 10th Inter. Workshop Computational Problems of Electrical Engineering, Waplewo, Poland, September 16-19th,2009