Identyfikatory
Warianty tytułu
Pomiar temperatury wewnątrz standardowych układów scalonych
Języki publikacji
Abstrakty
The paper describes method of temperature measurement of standard integrated circuits based on the data from the chip datasheet. Described temperature sensing technique uses built-in ESD protecting diodes. Some tests on LM741 operating amplifier were done. Results were compared with other temperature measurement methods.
Praca opisuje metodę pomiaru temperatury wewnątrz obudowy standardowych układów scalonych z wykorzystaniem danych z noty katalogowej układu. Przedstawiona technika rozpoznawania temperatury oparta jest o wykorzystanie wbudowanych w układ diod zabezpieczających przed wyładowaniami elektrostatycznymi. Dla potwierdzenia przydatności metody wykonano testy z wykorzystaniem wzmacniacza operacyjnego LM741. Wyniki zostały porównane z innymi metodami pomiaru temperatury.
Słowa kluczowe
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
109--116
Opis fizyczny
Bibliogr. 5 poz., rys., tab.
Twórcy
Bibliografia
- 1. Ardizzoni J.: ESD Diode Doubles as Temperature Sensor, Analog Dialogue, vol. 41, 2007.
- 2. Frankiewicz M., Kos A.: Overheat protection circuit for high frequency processors, Materiały X Krajowej Konferencji Elektroniki, Darłówko Wschodnie, 2011.
- 3. Szermer M., Janicki M., Kulesza Z., Napieralski A.: Practical realization of PTAT sensor for ASIC overheat protection, Proceedings of the 15th International Workshop on Thermal Investigations of ICs and Systems THERMINIC’2009, Leuven, Belgium, 2009.
- 4. Szymanik B., Napierała L.: Thermograms analysis using image processing algorithms, Proceedings of Electrotechnical Institute, Issue 248, 2010.
- 5. LM741 Operational Amplifier Datasheet, National Semiconductor, 2004.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPS2-0063-0025