Analiza parametrów metrologicznych systemu pomiarowego tomografii impedancyjnej

• Autorzy: Wójtowicz S.

Warianty tytułu

EN

Analysis of metrological parameters of measurement system for impedance tomography

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Analiza metrologiczna torów pomiarowych umożliwia oszacowanie przedziałów ufności wielkości mierzonych i w konsekwencji rozkładu przestrzennego przedziałów ufności parametrów impedancyjnych. Artykuł przedstawia strukturę systemu pomiarowego, probabilistyczny model pomiaru w systemie wielowejściowym oraz analizę rozkładów składowych błędów. Do oszacowania przedziałów ufności zastosowano i porównano metodę propagacji przedziałów ufności i metodę propagacji rozkładów gęstości prawdopodobieństwa.

EN

The metrological analysis of measuring chain enable to estimate a confidence interval of measured quantity as a consequence of confidence intervals for spatial distribution of impedance parameters. In the paper, the structure of measurement system, the probabilistic model of the measurement in multi-port system and the analysis of error components are presented. To estimate the confidence intervals a method of confidence interval propagation was applied as well this method with a method of probability density function propagation were compared.

Słowa kluczowe

PL

tomografia impedancyjna; model pomiaru

• Wydawca: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Elektrotechniki
• Czasopismo: Prace Instytutu Elektrotechniki
• Rocznik: 2007
• Tom: Z. 230
• Strony: 43--64
• Opis fizyczny: Bibliogr. 14 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Wójtowicz S.

• Zakład Metrologii i Badań Nieniszczących, Instytut Elektrotechniki,

Bibliografia

• 1. Berowski P., Filipowicz S.F., Sikora J., Wójtowicz S.: Determining location of moisture area of the wall by 3d electrical impedance tomography, 4th World Congres on Industrial Process Tomography, Aizu, Japan, 2005, pp. 214-220.
• 2. Biernat K., Nita K., Wójtowicz S.: „System akwizycji danych pomiarowych tomografu impedancyjnego", str. 287-294, 34 Krajowa Konferencja Badań Nieniszczących, Zakopane - Kościelisko 2005r.
• 3. Biernat K., Wójtowicz S.: „Wyznaczanie niepewności pomiarów złożonych metodą symulacyjną", str. 281-286, 34 Krajowa Konferencja Badań Nieniszczących, Zakopane - Kościelisko 2005r.
• 4. Filipowicz S.F., Rymarczyk T.: Tomografia impedancyjna. BEL Studio, Warszawa, 2003.
• 5. Fortuna Z., Macukow B., Wąsowski J.: Metody numeryczne, WNT, Warszawa, 1982.
• 6. Morrison D., F.: Wielowymiarowa analiza statystyczna. PWN, Warszawa, 1990.
• 7. Nita K., Wójtowicz S., Filipowicz Z., Filipowicz S. F.: Multichannel measuring setups in applying to impedanc tomography. 29-th International Conference on Fundamentals of Electrotechnics and Circuit Theory, Gliwice-Ustroń, May 24-27, 2006, pp. 459-462
• 8. Sikora J.: Algorytmy numeryczne w tomografii impedancyjnej i wiroprądowej. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 2000.
• 9. Sikora J., Wójtowicz S., Nita K., Filipowicz S.F., Biernat K.:The System for Impedance Tomography for Measuring the Distribution of Moisture in Walls, 7th International Workshop "Computational Problems of Electrical Engineering, Odessa, Ukraina, 28-31.08.2006.
• 10. Wójtowicz S.: Modelowanie wpływu czynników subiektywnych na niepewność pomiaru przy ocenie obrazów radiograficznych. Krajowa Konferencja Badań Radiograficznych POPÓW-2004, Politechnika Poznańska, PTBNiDT SIMP, 20-22 września 2004, Popów. Materiały konferencyjne str. 125-130.
• 11. Wójtowicz S., Biernat K., Cichecki A.: Szacowanie niepewności pomiaru metodą symulacyjną. KKBN 33, Licheń, 26-28 października 2004.
• 12. Wójtowicz S., Biernat K., Grzywacz T., Sikora J., Hoła J.: Rozproszony system akwizycji i przetwarzania danych w tomografii impedancyjnej, 35 Krajowa Konferencja Badań Nieniszczących, Szczyrk, 24 - 26 października 2006.
• 13. Wójtowicz S., Sikora J.: Metrological Analysis of Data Acquisition System for Impedance Tomography, PROCTOM 2006, 4th International Symposium on Process Tomography, Warszawa, 14-15 września 2006.
• 14. Wójtowicz S., Wójtowicz B., Biernat K.: Niepewność pomiarów w badaniach laboratoryjnych, w pracy zbiorowej pt: Badania Materiałów i Konstrukcji Inżynierskich pod redakcją Mieczysława Kamińskiego, Andrzeja Kmity, Aleksego Łodo, Jarosława Michałka. Dolnośląskie Wydawnictwo Edukacyjne, Wrocław 2004.