Zjawiska cieplne towarzyszące chłodzeniu astronomicznej kamery CCD

• Autorzy: Popowicz A.

Warianty tytułu

EN

Thermal effects during astronomical camera cooling

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono analizę zjawisk zachodzących w torze optycznym kamery astronomicznej podczas oraz po uruchamianiu jej chłodzenia. Badania przeprowadzono na kamerze ATIK 383L+ wyposażonej w czujnik CCD firmy Kodak KAF-8300. Przy współpracy z obserwatorium PTMA im. Jana Śniadeckiego w Kamieńcu udowodniono, iż zachodzące niechciane zjawiska mają negatywny wpływ na pomiary fotometryczne. Wykazano, iż stabilizacja toru optycznego wymaga dłuższego czasu niż stabilizacja termiczna czujnika, stąd wymóg zastosowania dodatkowego opóźnienia chwili rozpoczęcia wykonywanej serii zdjęć.

EN

Analysis of thermal effects in astronomical camera optical path was presented in the article. Experiments used ATIK 383L+ camera equipped with Kodak KAF-8300 CCD sensor. In collaboration with PTMA Society and Observatory in Kamieniec it was proven that thermal effects lead to errors in astronomical photometry and there should be used an additional delay after the camera cool down before starting photometry measurement series.

Słowa kluczowe

PL

matryce CCD; fotometria; astrofotografia

EN

CCD matrix; photometry; astrophotography

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2012
• Tom: R. 88, nr 12a
• Strony: 191--192
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys.

Twórcy

autor

Popowicz A.

• Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki, ul. Akademicka 16, 44-100 Gliwice,

Bibliografia

• [1] James R. Janesick "Scientific Charge Coupled Devices", SPIE Press Book, 2001
• [2] W. Romanishin "An Introduction to Astronomical Photometry Using CCDs", University of Oklahoma, 2006
• [3] Ian. S. McLean, "Electronic Imaging in Astronomy", Springer-Verlag Gmbh. 2008
• [4] A. Popowicz "Analiza prądu ciemnego w matrycach CCD". Przegląd Elektrotechniczny, 4/2011
• [5] A. Popowicz "Metoda Korekcji prądu ciemnego w matrycach CCD". Przegląd Elektrotechniczny, 11/2011
• [6] Ralf Widenhom, Mrley M. Blouke, Alexander Weber, Armin Rest, Erik Bodegom, "Temperature dependence of dark current in a CCD", SPIE vol. 4669, 2002.