PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Wpływ błędów pomiaru wartości skutecznych napięć na dokładność wyznaczenia impedancji pętli zwarciowej

Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Influence of measurement errors of RMS voltages on the accuracy of designation of loop impedance
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Wartość impedancji pętli zwarciowej otrzymuje się na podstawie pomiaru dwóch wartości napięć dla obwodu nieobciążonego oraz obciążonego, najczęściej rezystancją, która stanowi sztuczne zwarcie. Obecnie krzywa napięcia sieci w miejscu pomiaru może być wyraźnie odkształcona. W referacie przedstawiono analizę wpływu błędu pomiaru okresu napięcia sieci na dokładność wyznaczenia impedancji pętli zwarciowej, z uwzględnieniem odkształcenia krzywej napięcia.
EN
Loop impedance value is obtained by measuring two voltages for unloaded and loaded circuit, the most with resistive load, which is an artificial short circuit. Voltage waveforms in the present power systems could be strongly distorted. The paper presents the results of research over the impact of voltage distortion on the error of voltage period measurement and resulting from this an error of designation of loop impedance.
Rocznik
Strony
46--48
Opis fizyczny
Bibliogr. 6 poz., rys.
Twórcy
autor
  • Politechnika Gdańska, Katedra Metrologii i Systemów Informacyjnych, ul. G.Narutowicza 11/12, 80-233 Gdańsk, mziolko@ely.pg.gda.pl
Bibliografia
  • [1] Roskosz R., Nowe rozwiązania pomiaru impedancji pętli zwarciowej przy odkształceniu krzywej napięcia w miejscu badania, Zeszyty Naukowe PG, Elektryka, (1995), nr 79
  • [2] Ziółko M., Wpływ wybranych błędów cząstkowych na dokładność pomiaru impedancji pętli zwarciowej, Pomiary Automatyka Kontrola, 57 (2011), nr 12, 1583 - 1585
  • [3] Przybylski J., Szulc Z., Harmoniczne w napięciu oraz prądzie zasilającym, ISE.pl, (2002), data odczytu 23.05.2008, http://www.energotools.home.pl/info/index.php?pid=94
  • [4] Katalog firmy National Instruments, (2001)
  • [5] Świsulski D., Analiza dokładności cyfrowego pomiaru okresu zakłóconego napięcia sinusoidalnego w warunkach dynamicznych, Materiały KKM 2001, Politechnika Warszawska, Metrologia u Progu Trzeciego Milenium, t. 2 (2001), 497-500
  • [6] Nowotny M., Sedlacek M., New Class of Time Domain Algorithms of RMS Value Measurement of Non-Coherently Sampled Signals, 14th IMEKO Symposium on New Technologies in Measurement and Instrumentation and 10th Workshop on ADC Modeling and Testing, 1 (2005), 235-240
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPS1-0049-0013
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.