Zasada działania skaningowego mikroskopu tunelowego i mikroskopu sił atomowych oraz ich zastosowanie w badaniach tribologicznych

• Autorzy: Grobelny J. , Piwoński I.

Warianty tytułu

EN

Operating principles of scanning tunneling microscope and atomic force microscope - their application in tribological studies

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Artykuł przedstawia podstawy funkcjonowania i zasadę działania dwóch nowoczesnych narzędzi pozwalających na zaawansowane badania powierzchni ciał stałych: Mikroskopu Sił Atomowych (AFM) oraz Skaningowego Mikroskopu Tunelowego (STM). Pracę uzupełnia przykładowe zastosowanie mikroskopu sił atomowych do badań tribologicznych materiałów ceramicznych (TiO2).

EN

This paper presents the basics and operating principles of two modern tools designed for advanced research of solid surface: Atomic Force Microscope (AFM) and Scanning Tunneling Microscope (STM). AFM and STM are powerful tools in surface investigations especially from the point of view of intensive development of micromechanisms, what is usually accompanied with important tribological problems. This work is completed with an application example of AFM for tribological investigations of ceramic materials (TiO2).

Słowa kluczowe

PL

AFM; STM; TiO2; zol-żel; tarcie; zużycie

EN

AFM; STM; TiO2; sol-gel; friction; wear

• Wydawca: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
• Czasopismo: Tribologia
• Rocznik: 2004
• Tom: nr 5
• Strony: 79--88
• Opis fizyczny: Bibliogr. 17 poz., rys.

Twórcy

autor

Grobelny J.

• Uniwersytet Łódzki, Katedra Technologii Chemicznej i Ochrony Środowiska, ul. Pomorska 163, 90-236 Łódź

autor

Piwoński I.

• Uniwersytet Łódzki, Katedra Technologii Chemicznej i Ochrony Środowiska, ul. Pomorska 163, 90-236 Łódź

Bibliografia

• 1. Binnig G., Rohrer H.: Helv. Phys. Acta, 55 (1982) 726.
• 2. Binnig G., Rohrer H., Gerber Ch.: Weibel, Phys. Rev. Lett., 49 (1982) 726.
• 3. Tersoff J., Hamann D.R.: Phys. Rev. Lett, 50 (1983) 1998.
• 4. Tersoff J., Hamann D.R., Phys. Rev. B, 31 (1985) 805.
• 5. Binnig G., Quate C.F., Gerber Ch.: Phys. Rev. Lett. 56 (1986) 930.
• 6. Blackman G.S., Mate C.M., Philpott M.R.: Phys. Rev. Lett., 65 (1992) 2567.
• 7. Blackman G.S.: Vacuum, 41 (1990) 1283.
• 8. Hansma P.H., Elings V.B., Martin O.M., Bracker C.M.: Science, 242 (1988) 209.
• 9. Weisenhorn A.L., Hansma P.K., Albrecht T.R., Quate C.F.: Astr. Phys. Lett., 54 (1989) 2651.
• 10. Stifter T., Marti O., Bhushan B.: Physical Reviev B, 62 (2000) 13667.
• 11. Liu E., Blanpain B., Celis J.P.: Wear, 192 (1996) 141.
• 12. Mayer G., Amer N.M.: Appl. Phys. Lett., 57 ( 1990) 2089.
• 13. Mate C.M., McClelland G.M., Erlandsson R., Chiang S.: Phys. Rev. Lett., 59(1987) 1942.
• 14. Kaneko R.: J. Microsc, 152 (1988) 363.
• 15. Bhushan B., Koinkar V.N.: Sensors and Actuators A, 57 (1996) 91.
• 16. Schwarz U.D., Koster P., Wiesendanger R.: Rev. Sci. Instrum., 67 (1996) 2560.
• 17. Głuszek J.: Tlenkowe powłoki ochronne otrzymywane metodą sol-gel, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 1998.