Statystyczna analiza systemu pomiarowego w warunkach jego stosowania

• Autorzy: Diering M.

Warianty tytułu

EN

Statistical measurement system analysis in its operating conditions

• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

pomiary; karty kontrolne; analiza systemu pomiarowego; wskaźnik %R&R

EN

measurements; control charts; measurement system analysis; %R&R index

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Politechniki Poznańskiej. Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją
• Rocznik: 2009
• Tom: Nr 11
• Strony: 11--18
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz.

Twórcy

autor

Diering M.

• Politechnika Poznańska, Instytut Technologii Mechanicznej, Zakład Zarządzania Produkcją, ul. Piotrowo 3, 60-965 Poznań,

Bibliografia

• [1] Diering M., Pająk E., Analiza systemów pomiarowych w praktyce przedsiębiorstw produkcyjnych, Zeszyty Naukowe Wydziału Budowy Maszyn i Zarządzania Politechniki Poznańskiej, seria: Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją, Nr 10, wyd. Politechniki Poznańskiej, Poznań, 2009, str. 5-13.
• [2] Dietrich E., Schulze A., Metody statystyczne w kwalifikacji środków pomiarowych i procesów produkcyjnych, wyd. Notika System, Warszawa, 2000.
• [3] Juran J. M., Godfrey A. B., Juran’s Quality Handbook, McGraw-Hill, 2000.
• [4] Measurement Systems Analysis, MSA-Third Edition. Reference manual, AIAG-Work Group, Daimler Chrysler Corporation, Ford Motor Company, General Motors Corporation 2002.
• [5] Pajzderski P., Dobór i nadzorowanie wyposażenia do pomiarów i monitorowania w procesach wytwarzania, praca doktorska, Politechnika Poznańska, Wydział Budowy Maszyn i Zarządzania 2001.