Identyfikacja grubości filmu cieczy bardzo lepkiej w przepływie pierścieniowym

• Autorzy: Czernek K. , Filipczak G. , Witczak S.

Warianty tytułu

EN

Identification of film thickness layer of very viscous liquid in annular flow

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono możliwości układu optoelektronicznego do pomiaru grubości warstwy cieczy bardzo lepkiej przy jej dwufazowym przepływie opadającym w rurach pionowych z gazem. Podano metodykę prowadzenia oraz wyniki pomiarów i analiz. Podjęto również próbę oceny wpływu parametrów przepływowych i właściwości cieczy na wartość grubości warstwy olejowej, decydującej o efektywności działania aparatów cienkowarstew-kowych.

EN

The optoelectronic system capabilities for the measurement of film layer thickness of two-phase downward flow of very viscous liquid and gas in vertical pipes are presented in the paper. The methodology of research as well as results of measurements and analyses are described. An attempt to estimate the influence of flow parameters and liquid proprieties on the oil thickness layer, as a decisive component in the thin layer apparatus efficiency, was undertaken.

Słowa kluczowe

PL

przepływ dwufazowy; grubość filmu cieczy; ciecz bardzo lepka

EN

two-phase flow; film thickness; very viscous liquid

• Wydawca: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
• Czasopismo: Inżynieria i Aparatura Chemiczna
• Rocznik: 2010
• Tom: Nr 2
• Strony: 25--26
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz.

Twórcy

autor

Czernek K.

• Katedra Inżynierii Procesowej, Wydział Mechaniczny, Politechnika Opolska, Opole

autor

Filipczak G.

• Katedra Inżynierii Procesowej, Wydział Mechaniczny, Politechnika Opolska, Opole

autor

Witczak S.

• Katedra Inżynierii Procesowej, Wydział Mechaniczny, Politechnika Opolska, Opole

Bibliografia

• [1] K. Czernek, G. Filipczak, S. Witczak: Przem. Chem., 87, nr 2, (2008).
• [2] Jing-yu Xu, Ying-xiang Wu, Zai-hong Shi, Li-yun Lao, Dong-hui Li: Int. J. Multiphase Flow, 33, nr 9, 948 (2007).
• [3] K. Czernek: Inż. i Ap. Chem., 48, nr 6, 41 (2009).
• [4] J. Oriol, J.R Leclerc, C. Jallut, P. Tochon, P. Clement: Chem. Eng. Sci., 63, nr l, 24, (2008).
• [5] E.W.Jassim, T.A. Newell, J.C. Chato: Exp. Ther. and Fluid Sci., 32, (2008).