Nowa metoda analizy kart kontrolnych procesu

• Autorzy: Hamrol A. , Kujawińska A.

Warianty tytułu

EN

New method of control charts analysis

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Artykuł traktuje o metodach rozpoznawania statystycznej stabilności procesu z wykorzystaniem tzw. kart kontrolnych procesu. W pracy wskazano problemy związane z wykorzystaniem tradycyjnych kart kontrolnych bezpośrednio w procesie wytwarzania, na stanowisku roboczym. Zaprezentowano nowe, autorskie podejście do analizowania danych na kartach kontrolnych, oparte na traktowaniu tych danych jako liczbowego szeregu czasowego, tworzącego pewien obraz stanu procesu. Opisano propozycje metod klasyfikowania obrazów na karcie kontrolnej oraz krótką charakterystykę programu CCAUS (ang. Control Charts-Analysis Unnatural Symptoms), wspomagającego te metody. W publikacji zamieszczono także wyniki weryfikacji skuteczności opracowanych metod dla danych uzyskanych z dwóch operacji technologicznych: dogladzania i szlifowania.

EN

The paper takes up some problems connected with the analysis of the process stability with the use of process control charts. An approach of pattern recognition idea and two applications, called OTT and MW, supporting these approach are described. Also an CCAUS software (Control Charts-Analysis Unnatural Symptoms) aided the use these applications is presented. Verification of the worked out methods was performed on the base of data taken from two machining operations

Słowa kluczowe

PL

karta kontrolna; rozpoznawanie; stabilność procesu

EN

control charts; recognition; process stability

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
• Czasopismo: Archiwum Technologii Maszyn i Automatyzacji
• Rocznik: 2006
• Tom: Vol. 26, nr 2
• Strony: 149--158
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz.

Twórcy

autor

Hamrol A.

autor

Kujawińska A.

• Prof. dr hab. inż. - Instytut Technologii Mechanicznej Politechniki Poznańskiej

Bibliografia

• [1] Cheng Ch. Hubele N., A pattern recognition algorithm for an x control chart, HE Transaction, 1996, nr 28.
• [2] Hamro! A., Zarządzanie jakością z przykładami, Warszawa, Wydawnictwo Naukowe PWN 2005.
• [3] Hamrol A., Kalka R., Pakiet oprogramowania do wspomagania SPC z możliwością wyznaczania globalnych stanów jakości, in: Metrologia w technikach wytwarzania, Kielce, Zeszyty Naukowe Politechniki Świętokrzyskiej, 1997.
• [4] Parker J.R., Algorithms for Image Processing and Computer Vision, New York, Wilcy 1996.
• [5] Płaska S., Wprowadzenie do statystycznego sterowania procesami technologicznymi, Lublin 200!.
• [6] Rutkowski L., Metody i techniki sztucznej inteligencji, inteligencja obliczeniowa, Warszawa, Wydawnictwo Naukowe PWN 2005.