Wpływ mechanicznego filtrowania końcówki pomiarowej na falistość i chropowatość powierzchni

• Autorzy: Swornowski P.

Warianty tytułu

EN

The influence of the mechanical filtration of the measuring-pin on the waviness and surface roughness

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono wpływ oprogramowania pomiarowego na wynik wzorcowania WMP. Wzorcowanie przeprowadzono, korzystając z płytowego wzorca kulowego. Przedstawiono mechanizm powstania błędu na mierzonym elemencie geometrycznym, którym była kula, oraz krótki przegląd wzorców opartych na kuli. Dołączono wyniki pomiarów wzorca kulowego na WMP dia wybranej płaszczyzny XY. Pokazują one niedokładność przestrzeni pomiarowej maszyny współrzędnościowej. Zjawisko to może wystąpić w niektórych obecnie stosowanych oprogramowaniach WMP.

EN

In the article one introduced border-values of the radius (rtip) and the sampling step at which does not appear the phenomenon of the mechanical filtration of the outline in the waviness and the surface roughness measurement. Parameters were marked basing on the Shannon's criterion, generally in the digital techniques applied. The review both parameters in the world literature one contained.

Słowa kluczowe

PL

chropowatość powierzchni; falistość powierzchni; filtrowanie mechaniczne zarysu; kryterium Shannona

EN

waviness; roughness; mechanical filtration; Shannon's criterion

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
• Czasopismo: Archiwum Technologii Maszyn i Automatyzacji
• Rocznik: 2006
• Tom: Vol. 26, nr 2
• Strony: 129--137
• Opis fizyczny: Bibliogr. 22 poz.

Twórcy

autor

Swornowski P.

• Dr inż. - Instytut Technologii Mechanicznej Politechniki Poznańskiej

Bibliografia

• [1] Boryczko A., Conditions of measurement, analog - to digital conversion and frequency analysis of irregularities of surface profile, Metrology and Measurement Systems, 2002, vol. 9, 2, s. 159- 169.
• [2] Chetwynd D.G., The digitisation of surface profiles. Wear, 1979, 57, s. 137- 145.
• [3] Guerrero J.L., Black J.T., Stylus tracer resolution and surfaces damage as determined by scanning electron microscopy, Trans. ASME, J. Eng. Ind., 1972, 94, s. 1087- 1093.
• [4] Humienny Z. (red.), Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS), Warszawa, WNT 2004.
• [5] Konczakowski A., Metrologiczne uwarunkowanie analizy widmowej struktury geometrycznej powierzchni w diagnostyce obrabiarek, Zeszyty Naukowe Politechniki Gdańskiej, Mechanika, 1991, z. 62.
• [6] Lin T. Y. et al., Determination of the proper frequency bandwidth for 3-D topography measurement using spectra! analysis. Part 1: Isotropic surface, Wear, 1993, 166.
• [7] Mainsah E. et al., The effect of quantisation on 3D topography characterisation, Measurement Science and Technology, 1994, vol. 5, 2, s. 172- 181.
• [8] Nowicki B., Struktura geometryczna. Chropowatość i falistość powierzchnii, Warszawa, WNT 1991.
• [9] Pawlus P., Topografia powierzchni. Pomiar, analiza, oddziaływanie, Rzeszów, Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej 2005.
• [10] Shannon C.E., Coding Theorems for a Discrete Source With a Fidelity Criterion, Institute of Radio Engineers, reprinted in: Key Papers in the Development of Information Theory, ed. D. Slepian, New York, IEEE Press 1974.
• [11] Sherrington I., Smith E.H., Areal Fourier analysis of surface, Topography, 1990, 3, s. 43-68.
• [12] Stout K.J. et al., The development of methods for the characterisation of roughness in three dimensions, Publications EUR 15178 EN Commission of the European Communities, 1993.
• [13] Swornovvski P., Wpływ mechanicznego filtrowania końcówki pomiarowej na wynik pomiaru w technice współrzędnościowej, Archiwum Technologii Maszyn i Automatyzacji, 2005, vol. 25, nr 2, s. 77-86.
• [14] Thomas T.R., Rough Surfaces, Second Edition, London, Imperial College Press 1999.
• [15] Tomasik J., Rudziński R.. Wpływ odstępu próbkowania na wartość wybranych parametrów chropowatości powierzchni, PAR, 1998, l, s. 30- 36.
• [16] Tsukada T., Konada T., Evaluation of two- and three dimension surface roughness profile and their confidence, Wear, 1986, 109, s. 67- 78.
• [17] Tsukada T., Sasajima S., An optimum sampling interval for diditising surface asperity profiles, Wear, 1982,83,5. 119- 128.
• [18] DIN 4772: 1979 Electrical contact (stylus) instruments for the measurement of surface roughness by the profile method.
• [19] PN-EN ISO 3274: 1997 Specyfikacje geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Charakterystyki nominalne przyrządów stykowych.
• [20] PN-EN ISO 4288: 1997 Wymagania geometryczne wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni. Zasady i procedury oceny struktury geometrycznej powierzchni metodą profilową.
• [21] Internet http://www.wegu-sensorik.de.
• [22] Katalog firmy Mahr, 2005.