PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Electrochemical synthesis and structural properties of Cu/Ni multilayers

Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
Multilayers of Cu/Ni were electodeposited on monocrystalline Si (100) and polycrystalline copper foil substrates using a single bath containing nickel sulphamate, copper sulphate and boric acid. Voltammetric studies allow establishing the suitable potentials for Cu pure and Ni rich single layer. Based on these studies lower activity of silicon than cooper substrate was stated. SEM investigations confirm periodical structure of the prepared multilayers when the Λ period exceeds 50 nm. For lower bilayer thickness XRD method allowed determining Λ value after precise establishing diffraction lines S±i and ML. XRD investigations show that all deposited multilayers exhibited [100] texturing.
Rocznik
Strony
283--289
Opis fizyczny
Bibliogr. 16 poz., rys. 4
Twórcy
autor
  • Faculty of Materials Processing Technology And Applied Physics, Częstochowa University of Technology, Al. Armii Krajowej 19, 42-200 Częstochowa, adam@mim.pcz.czest.pl
Bibliografia
  • [1] M.N. Baibich, J.M. Broto, A. Fert, F. Nguyen Van Dau, F. Petroff, P. Eitenne, G. Creuzet, A. Friederich and J. Chazelas, Phys. Rev. Lett., 61, 2472 (1988).
  • [2] K. Ludwig, J. Hauch, R. Mattheis, K.U. Barholz and G. Rieger, Sensors and Actuators A, 106,15 (2003).
  • [3] X. Zhang, A. Misra, H. Wang, T.D. Shen, M. Nastasi, T.E. Mitchell, J.R Hirth, R.G. Hoagland and J.D. Embury, Acta Materialia, 52, 995 (2004).
  • [4] P.M. Anderson, J.F. Bingert, A. Misra and J.R Hirth, Acta Materialia, 51, 6059 (2003).
  • [5] Z.J. Liu, A. Vyas, Y.H. Lu and Y.G. Shen, Thin Solid Films, 479, 31 (2005).
  • [6] M. Onishi, R. Ishihara, A. Kida, M. Doi, H. Asano and M. Matsui, Journal of Magnetism and Magnetic Materials, 272-276, e 1413 (2004).
  • [7] D.A.R. Barkhouse, A. Bonakdarpour, M. Fleischauer, T.D. Hatchard and J.R. Dahn, Journal of Magnetism and Magnetic Materials, 261, 399 (2003).
  • [8] J.M.D. Coey and G. Hinds, Journal of Alloys and Compounds, 326, 238 (2001).
  • [9] G. Nabiyouni and W. Schwarzacher, Journal of Crystal Growth, 275, el259 (2005).
  • [10] E. Gomez, S. Pane and E. Valles, Electrochimica Acta, 51, 146 (2005).
  • [11] A. Cziraki, M. Koteles, L. Peter, Z. Kupay, J. Padar, L. Pogany, I. Bakonyi, M. Uhlemann, M. Herrich, B. Arnold, J. Thomas, H.D. Bauer and K.Wetzig, Thin Solid Films, 433,237 (2003).
  • [12] E. Chassalng, J. Electrochem. Soc., 144, L328 (1997).
  • [13] V. Georgescu and M. Georgescu, Surface Science, 507-510, 507 (2002).
  • [14] C. Serre, N. Yaakoubi, S. Martinez, A. Perez-Rodriguez, J.R. Morante, J. Esteve and J. Montserrat, Sensors and Actuators A, 123-124, 633 (2005).
  • [15] M. Uhlemann, A. Gebert, M. Herrich, A. Krauze, A. Cziriaki and L. Schultz, Electrochemica Acta, 48, 3005 (2003).
  • [16] A. Tokarz, Z. Nitkiewicz and A. Wolkenberg, Electron Technology - Internet Journal, 35, 1 (2003).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPP1-0061-0064
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.