PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

PECVD of barrier coatings on polymer foils

Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
Polyethylene foilwas coated by deposition of thin films (30–150 nm) of silicon compounds obtained from tetramethoxysilane (TMOS) in argon plasma under pressure 0.5 or 1 bar in dielectric barrier discharge (DBD). Samples of untreated foil and of the foil coated with thin films deposited under various process conditions were examined by means of FTIR, atomic force microscope (AFM), and bymeasuring the barrier properties. It has been found that under the DBD conditions both the activation process (the action of argon plasma) and the thin coatings consistingmainly of SiO2, reduce the permeation of oxygen and water vapour through the foil. The rate of the coating deposition under investigationwas roughly 65 nm/min.
Słowa kluczowe
Rocznik
Strony
153--165
Opis fizyczny
Bibliogr. 12 poz., rys. 15
Twórcy
autor
  • Faculty of Chemistry, Warsaw University of Technology ul. Noakowskiego 3, 00-664 Warszawa
autor
  • Faculty of Chemistry, Warsaw University of Technology ul. Noakowskiego 3, 00-664 Warszawa
autor
  • Faculty of Chemistry, Warsaw University of Technology ul. Noakowskiego 3, 00-664 Warszawa
Bibliografia
  • [1] A.M. Wróbel, A. Walkiewicz-Pietrzykowska, S. Wickramanayaka and Y. Hatanaka, J. Electrochem. Soc., 145, 2866 (1998).
  • [2] M. Shirai, S. Umeda, M. Tsunooka and T. Matsuo, Eur. Polym. J., 34, 1295 (1998).
  • [3] J. Tyczkowski, B. Pietrzyk, P. Kazimierski and K. Gubiec, Surface and Coatings Technology, 142-144, 843 (2001).
  • [4] L. Zajičkova, V. Buršiková, V. Perina, A. Macková, D. Subedi, S. Smirnov and J. Janča, Surface and Coatings Technology, 142-144, 449 (2001).
  • [5] N.K. Cuong, M. Tahara, N. Yamauchi and T. Sone, Surface and Coatings Technology, 174-175, 1024 (2003).
  • [6] K. Schmidt-Szałowski, W. Fabianowski, Z. Rżanek-Boroch and J. Sentek, J. Chem. Vap. Deposition, 6, 183-195 (1998).
  • [7] Patent US 6094606.
  • [8] Patent EP 0516804.
  • [9] Patent application P 318 870.
  • [10] N. Inagaki, S. Tasaka and H. Hiramatsu, J. Appl. Polymer Sci., 71, 2091-2100 (1999).
  • [11] K. Schmidt-Szałowski, Z. Rymuza, Z. Rżanek-Boroch, Z. Kusznerewicz, M. Misiak and J. Sentek, in Proceedings, 14th Int. Symp. Plasma Chemistry, Praha (1999) p. 1309.
  • [12] Z. Rymuza, M. Misiak, L. Kuhn, K. Schmidt-Szałowski, Z. Rżanek-Boroch, Microsystem Technol., 5, 181-188(1999).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPP1-0061-0051
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.