PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Analysis of tantalum loaded tributyl phosphate for the content of major, minor and trace elements using microwave decomposition and ICP-OES

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
PL
Analiza ICP-OES fosforanu tributylu z zawartym w nim tantalem na pierwiastki główne, drugorzędne i śladowe po mikrofalowym rozkładzie
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
Tantalum was extracted from the tantalite-columbite ore solution using tributyl phosphate (TBP) as a solvent. TBP containing tantalum and trace impurities were next decomposed applying a microwave digestion and the mixture of HNO3, H2O2 and HF acids. The procedure was conducted in the microwave vessel at low and high temperatures. It was found that under cold conditions NO2 and CO2 liberated during the digestion were dissolved completely in the solution. In contrast, under hot conditions (60-80°C) dissolution was not complete, which influenced the acidity of the solution and affected analysis results. The accuracy of the proposed method was evaluated by recovery experiments (TBP spiked with metal cations) and the results ranged between 94-102%.
PL
Tantal wyekstrahowano z roztworu rudy fantalit (kolumbit) stosując fosforan tributylu {TBP) jako rozpuszczalnik. TBP zawierający tantal i śladowe zanieczyszczenia został następnie rozłożony działaniem mikrofal i mieszaniny kwasów HNO(3), i HF oraz H202. Proces przeprowadzono w naczyniu mikrofalowym stosując niskie i wysokie temperatury. Stwierdzono, że w niskiej temperaturze, uwalniane podczs rozkładu NO(2) i CO(2), rozpuszczają się całkowicie w roztworze, natomiast w warunkach wysokiej temperatury rozpuszczenie nie zachodziło całkowicie, co miało wpływ na kwasowość roztworu i wyniki analizy. Dokładność proponowanej metody badano dodając do TBP kationy metali. Uzyskane odzyski mieściły się w granicach 94-102%.
Czasopismo
Rocznik
Strony
459--465
Opis fizyczny
Bibliogr. 8 poz.
Twórcy
autor
  • Centre for Materials for Electronics Technology (C-MET), IDA, Phase-II, HCL Post, Cherlapalli, Hyderabad - 500 051, INDIA
  • Centre for Materials for Electronics Technology (C-MET), IDA, Phase-II, HCL Post, Cherlapalli, Hyderabad - 500 051, INDIA
autor
  • Centre for Materials for Electronics Technology (C-MET), IDA, Phase-II, HCL Post, Cherlapalli, Hyderabad - 500 051, INDIA
autor
  • Centre for Materials for Electronics Technology (C-MET), IDA, Phase-II, HCL Post, Cherlapalli, Hyderabad - 500 051, INDIA
  • Centre for Materials for Electronics Technology (C-MET), IDA, Phase-II, HCL Post, Cherlapalli, Hyderabad - 500 051, INDIA
Bibliografia
  • 1. Abu-Samra A., Morris J.S. and Koirtyohann S.R., Anal. Chem., 47, 1475 (1975).
  • 2. Kingston H.M. and Jassie L.B., Introduction to Microwave Sample Preparation, ACS, (1988).
  • 3. Robbat A. jr. and Simpson R.L., Fresenius J. Anal. Chem., 364, 305 (1999).
  • 4. Araujo G.C., Anarita Nogueira A.R.A. and Nobrega J. A., Analyst, 125,1861 (2000).
  • 5. Nobrega J.A., Gelinas Y., Krushevska A. and Barnes R.M., J. Anal. Atom. Spectrom., 12, 1239 (1997).
  • 6. Shaole W., Xinbang F. and Wittmeier A., J. Analytical Atomic Spectrometry, 12, 797 (1997)
  • 7. Agazzi A. and Pirola C., Microchem. J., 67, 337 (2000).
  • 8. Klerk A.D. and Rademeyer C.J., J. Anal. Atom. Spectrom., 12, 1221 (1997).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPP1-0044-0054
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.