Wybrane problemy oceny właściwości stereometrycznych powierzchni narzędzi ściernych z wykorzystaniem obrazów optycznych

• Autorzy: Kacalak W. , Bernat A.

Warianty tytułu

EN

The chosen problems of estimation of stereometric properties of abrasive tools surface with use of optical images

• Konferencja: Międzynarodowa Konferencja MANUFACTURING'04 : "Współczesne problemy projektowania i wytwarzania" / sympozjum [II; 2004; Poznań]
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule zawarto informacje dotyczące oceny cech powierzchni narzędzi ściernych. Zaprezentowano nową metodę określania cech stereometrycznych powierzchni na podstawie obrazu 2D. Jest ona oparta na obliczaniu sum kumulacyjnych wartości luminancji pikseli w obrazie 2D badanej powierzchni celem wnioskowania o jej zarysie 3D na podstawie lokalnych zmian wartości luminancji na dwóch ortogonalnych kierunkach. Następnie oceniono przydatność i dokładność tej metody na podstawie danych porównawczych pochodzących z pomiarów profilometrycznych badanej powierzchni.

EN

In this article the information about estimation of the features of abrasive tools surface has been contained. A new method of extraction of stereometric features of the surface, based on the 2D image, has been presented. The calculating of cumulative sums of pixels intensities on two directions is the base of the estimation. The method adequacy and precision has been then evaluated, accordingly to the data originated from 3D profile measurements of the surface.

Słowa kluczowe

PL

stereometria; powierzchnia czynna; narzędzia ścierne; binaryzacja

EN

stereometry; cutting surface; abrasive tool; binarization

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
• Czasopismo: Archiwum Technologii Maszyn i Automatyzacji
• Rocznik: 2004
• Tom: Vol. 24, nr 2 sp
• Strony: 101--114
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz.

Twórcy

autor

Kacalak W.

• Wydział Mechaniczny Politechniki Koszalińskiej

autor

Bernat A.

• Wydział Mechaniczny Politechniki Koszalińskiej

Bibliografia

• [1] Egmont-Petersen H., de Ridder D., Handels H., Image processing with neural network - a review, Pattern Recognition, 2002, no. 35, s. 2279-2301.
• [2] Image Processing Toolbox Manual MATLAB ver. 6.5.
• [3] Otsu N., A threshold selection method from grey level histograms, IEEE Transactions on Systems, Man, and Cybernetics, 1979, no. SMC-9, s. 62-66.
• [4] Szelinsky R., From images to models (and beyond): a personal retrospective, Vision Interface, 1997, May 21.
• [5] Wendt U., Stiebe-Lange K., Smid M., On the influence of imaging conditions and algorithms on the quantification of surface topography, Journal of Microscopy, 2002, vol. 207, s 169-179.