Radiograficzna kontrola wyrobów w czasie rzeczywistym

• Autorzy: Senczyk D.

Warianty tytułu

EN

X-ray real time inspection

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

System HMX (High Magnification X -Ray System) : firmy X -TEK (Anglia) jest Urządzeniem przeznaczonym do nieniszczącej kontroli małych elementów i zespołów o masie do 10 kg. Jest bardzo zaawansowanym technologicznie mikroogniskowym układem rentgenowskim. Promienie rentgenowskie wytwarza lampa z ogniskiem 5 um. Wiązka ta przechodzi przez badaną próbkę umieszczoną obrotowym stoliku manipulatora i obraz rentgenowski pada na wzmacniacz elektronowy. Przekształca on obraz rentgenowski w widzialny, który jest rejestrowany kamerą wideo i pokazywany na ekranie monitora. System HMX jest w rzeczywistości mikroskopem rentgenowskim o zdolności rozdzielczej szczegółów do 5 um grubości i powiększeniu do 160 razy . Całkowite powiększenie na ekranie wynosi do 1800 razy. System HMX ma szeroki wybór opcji: 3 zakresy wysokiego napięcia (125, 160, 225 kV), .3 rodzaje ognisk lampy (5 um, 10 um, wydłużona anoda), 3 manipulatory , 5 wzmacniaczy rentgenowskich, różne procesory obrazu i drukarki .

EN

The High Magnification X -Ray System (HMX) from X -TEK (England) is a multi -purpose cabinet intended for the non-destructive testing of smaller components and assemblies up to 10 Kg. The HMX is the most advanced microfocus X -ray system available. The X -ray source generates a continuous beam of X -ray from a 5 micron spot The beam passes through the sampIe placed on the manipulator turntable, and casts an X -ray shadow onto the intensifier window. The intensifier converts the X -ray shadow into a visible image, which is recorded by a video camera and displayed on a monitor. Capable of resolving detail down to 5 microns across, and with magnifications up to 160x, the HMX is a true X -ray microscope. The monitor image is further magnified by the ratio of size between monitor and intensifier window, total magnification is over 1800x. The HMX has a wider choice of options: 3 kV ranges (125, 160, 225 kV), 3 target types (ultrafocus 5 um closefocus 10um, 10 um rod anode), 3 manipulators, 5 X-ray intensifiers, 2 cabinet sizes, image processors, video printers and others accessories.

Słowa kluczowe

PL

kontrola radiograficzna; mikroskopia rentgenowska

EN

X-ray inspection; X-ray microscopy

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Politechniki Poznańskiej. Mechanika
• Rocznik: 2002
• Tom: Nr 48
• Strony: 99--104

Twórcy

autor

Senczyk D.

• Instytut Inżynierii Materiałowej Politechniki Poznańskiej