A method for the determination of mass per unit area inhomogenity of thin samples in XRF analysis

• Autorzy: Sitko R. , Jurczyk J.

Warianty tytułu

PL

Sposób wyznaczania niejednorodności masy powierzchniowej cienkich próbek w analizie XRF

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The authors have presented a simple method for the determination of possible inhomogeneity of thin samples in a wavedisperive XRF analysis after previous examination of intensity distribution of exciting radiation on sample's surface. Investigates were carried out using as an example microsamples of mono- and polycrystals. Samples were prepared by digesting an analyzed material directly on the substrate. The obtained results have been presented in a graphical way.

PL

Autorzy przedstawili prosty sposób wyznaczania ewentualnej niejednorodności cienkich próbek w falowodyspersyjnej analizie XRF po uprzednim przebadaniu rozkładu natężenia promieniowania wzbudzającego l1a powicrzchl1i próbki. Badania przeprowadzono na przykładzie mikropróbek mono- i polikryształów. Próbki przygotowywano poprzez roztwarzane badanego materiału bezpośrednio na podłożu. Uzyskane wyniki przedstawiono graficznie.

Słowa kluczowe

EN

thin layer; inhomogenity of solids; XRF analysis

PL

cienka próbka; niejednorodność ciał stałych; analiza XRF

• Wydawca: Komitet Chemii Analitycznej PAN
• Czasopismo: Chemia Analityczna
• Rocznik: 1999
• Tom: Vol. 44, No. 6
• Strony: 1033--1040
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz.

Twórcy

autor

Sitko R.

• Institute of Chemistry, Silesian University, 40-006 Katowice, Poland

autor

Jurczyk J.

• Institute of Chemistry, Silesian University, 40-006 Katowice, Poland

Bibliografia

• 1. Billiet J., Dams R. and Hoste J., X-Ray Spectrom., 9, 206 (1980).
• 2. Hołyńska B., X-Ray Spectrom., 22, 192 (1993).
• 3. Giauqe R.D., Goulding F.S., Jaklevic J.M. and Pehl R.H., Anal. Chem., 45, 671 (1973).
• 4. Fabry L., Pahlke S. and Kotz L., Fresenius J. Anal. Chem., 354, 266 (1996).
• 5. Haupt O., Klaue B., Schaefer C. and Dannecker W., X-Ray Spectrom., 24, 267 (1995).
• 6. Markowicz A., Haselberger N. and Whai Zin Oo D., X-Ray Spectrom., 22, 160 (1993).
• 7. Von Vaeth E., Ohls K. and Kresse J., Metalloberfläche, 35, 164 (1981).
• 8. Jurczyk J., Buhl F., Sitko R., Fabis M. and Czaja M., Chem. Anal. (Warsaw), 42, 703 (1997).
• 9. Jurczyk J., Sitko R., Buhl F. and Jendrzejewska I., Chem. Anal. (Warsaw), 44, 167 (1999).
• 10. Jurczyk J., Sitko R. and Buhl F., Chem. Anal. (Warsaw), 43, 185 (1998).
• 11. Bertin E.P., Principles and Practice of X-Ray Spectrometric Analysis, Plenum Press, London 1975.
• 12. Rhodes J.R., Amer. Lab., 5, 57 (1973).