Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Sposób wyznaczania niejednorodności masy powierzchniowej cienkich próbek w analizie XRF
Języki publikacji
Abstrakty
The authors have presented a simple method for the determination of possible inhomogeneity of thin samples in a wavedisperive XRF analysis after previous examination of intensity distribution of exciting radiation on sample's surface. Investigates were carried out using as an example microsamples of mono- and polycrystals. Samples were prepared by digesting an analyzed material directly on the substrate. The obtained results have been presented in a graphical way.
Autorzy przedstawili prosty sposób wyznaczania ewentualnej niejednorodności cienkich próbek w falowodyspersyjnej analizie XRF po uprzednim przebadaniu rozkładu natężenia promieniowania wzbudzającego l1a powicrzchl1i próbki. Badania przeprowadzono na przykładzie mikropróbek mono- i polikryształów. Próbki przygotowywano poprzez roztwarzane badanego materiału bezpośrednio na podłożu. Uzyskane wyniki przedstawiono graficznie.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
1033--1040
Opis fizyczny
Bibliogr. 12 poz.
Twórcy
autor
- Institute of Chemistry, Silesian University, 40-006 Katowice, Poland
autor
- Institute of Chemistry, Silesian University, 40-006 Katowice, Poland
Bibliografia
- 1. Billiet J., Dams R. and Hoste J., X-Ray Spectrom., 9, 206 (1980).
- 2. Hołyńska B., X-Ray Spectrom., 22, 192 (1993).
- 3. Giauqe R.D., Goulding F.S., Jaklevic J.M. and Pehl R.H., Anal. Chem., 45, 671 (1973).
- 4. Fabry L., Pahlke S. and Kotz L., Fresenius J. Anal. Chem., 354, 266 (1996).
- 5. Haupt O., Klaue B., Schaefer C. and Dannecker W., X-Ray Spectrom., 24, 267 (1995).
- 6. Markowicz A., Haselberger N. and Whai Zin Oo D., X-Ray Spectrom., 22, 160 (1993).
- 7. Von Vaeth E., Ohls K. and Kresse J., Metalloberfläche, 35, 164 (1981).
- 8. Jurczyk J., Buhl F., Sitko R., Fabis M. and Czaja M., Chem. Anal. (Warsaw), 42, 703 (1997).
- 9. Jurczyk J., Sitko R., Buhl F. and Jendrzejewska I., Chem. Anal. (Warsaw), 44, 167 (1999).
- 10. Jurczyk J., Sitko R. and Buhl F., Chem. Anal. (Warsaw), 43, 185 (1998).
- 11. Bertin E.P., Principles and Practice of X-Ray Spectrometric Analysis, Plenum Press, London 1975.
- 12. Rhodes J.R., Amer. Lab., 5, 57 (1973).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPP1-0012-0037