Thin sample in the XRF analysis. A new method of preparing microsamples of mono- and polycrystals and of silicate rocks

Jurczyk, J.; Sitko, R.; Buhl, F.; Jendrzejewska, I.

Artykuł - szczegóły

Tytuł artykułu

Thin sample in the XRF analysis. A new method of preparing microsamples of mono- and polycrystals and of silicate rocks

Autorzy

Jurczyk J. , Sitko R. , Buhl F. , Jendrzejewska I.

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma

http://beta.chem.uw.edu.pl/chemanal/

Identyfikatory

Warianty tytułu

Technika "cienkiej próbki" w analizie XRF. Nowy sposób przygotowywania mikropróbek mono- i polikryształów oraz skał krzemianowych

Języki publikacji

Abstrakty

The authors have described a new method ofpreparation ofthin samples, which consists in digesting of the material studied directly on the substrate. Investigations were carried out in the sub- and microanalytical area with mono- and polycrystals of spinel structure (samples' mass from D. I to 1.2 mg), and in the semimicroanalytical area with silicate rocks (samples' mass from 5 to 5D mg). Relative thicknesses of samples as well as errors resulting from the lack of linear relationship between concentration and intensity of radiation have been determined using simple mathematical methods. A simplified method of performing the calibration has been applied by using one standard of diversified masses In the case of submicroanalysis of mono- and polycrystals, a possibility of neglecting the interelement influences allowed for using a linear regres-sion in the calibration. In the semimicroanalytical area (rock analysis), the appropriate mathematical models have been used to improve the results

Autorzy opisali nowy sposób przygotowania cienkich próbek polegający na roztwarza-niu badanego materiału bezpośrednio na podłożu. Badania przeprowadzono w obszarze sub- i mikroanalitycznym na przykładzie mono- i polikryształów o budowie spineli (odważki od D. I do 1.2mg) oraz w obszarze semimikroanalitycznym na przykładzie skał krzemianowych (odważki od 5 do 5Dmg). Stosując proste metody matematyczne wY-znaczono względne grubości próbek oraz blędy wynikające z braku liniowej zależności pomiędzy koncentt.acją a intensywnością promieniowania. Zastosowano uproszczony sposób wykonania kalibracji z wykorzystaniem jednego wzorca o zróżnicowanych masach. W przypadku submikroanalizy mono- i polik1-yształów możliwość zaniedbania wpływów międzypierwiastkowych pozwolił a na wykorzystanie regresji liniowej do kalibracji. W obszarze semimikroanalitycznym (analiza skał) do poprawy wyników wykorzystano odpowiednie modele matematyczne-

Słowa kluczowe

XRF analysis thin layer method monocrystal polycrystal silicate

analiza XRF technika cienkiej próbki monokryształ polikryształ krzemian

Wydawca

Komitet Chemii Analitycznej PAN

Czasopismo

Chemia Analityczna

Rocznik

1999

Tom

Vol. 44, No. 2

Strony

167--186

Opis fizyczny

Bibliogr. 17 poz.

Twórcy

autor

Jurczyk J.

Institute of Chemistry, Silesian University, 40-006 Katowice, Poland

autor

Sitko R.

Institute of Chemistry, Silesian University, 40-006 Katowice, Poland

autor

Buhl F.

Institute of Chemistry, Silesian University, 40-006 Katowice, Poland

autor

Jendrzejewska I.

Institute of Chemistry, Silesian University, 40-006 Katowice, Poland

Bibliografia

1. Bertin E.P., Principles and Practice of X-ray Spectrometric Analysis, Plenum Press, London 1975.
2. Criss J.W. and Birks L.S., Anal. Chem., 40, 1080 (1968).
3. Felten E.J., Fankuchen I. and Steigman J., Anal. Chem., 31, 1771 (1959).
4. Łosiew N.F., Quantitative X-ray fluorescence analysis, Nauka, Moskwa 1969, (in Russian).
5. Rhodes J.R., Energy-dispersive X-ray spectrometry for multielement pollution analysis, Amer. Lab. 5 (1973).
6. Jurczyk J., Sitko R. and Buhl F., Chem. Anal. (Warsaw), 43, 185 (1998).
7. Addink N.W.H., Rev. Universelle Mines, 15, 530 (1959).
8. Giauqe R.D., Goulding F.S., Jaklevic J.M. and Pehl R.H., Anal. Chem., 45, 671 (1973).
9. Ivanenko V.V., Kustov V.N., Metelev A.Yu. and Rakita K.A., Zh. Anal. Khim., 44, 351 (1989).
10. Zheng H.L. and Wu M.I., Fenxi-Shiyanshi, 13, 74 (1994).
11. Veverka I., Maly L. and Vidmar A., Chem. Listy, 81, 1089 (1987).
12. Kulcu N. and Troemel M., Fresenius Z. Anal. Chem., 318, 604 (1984).
13. Jurczyk J., Buhl F., Sitko R., Fabio M. and Czaja M., Chem. Anal. (Warsaw), 42, 703 (1997).
14. Jurczyk J., Buhl F. and Wilczek I., Chem. Anal. (Warsaw), 38, 519, (1993).
15. Ersepke Z., X-Ray Fluorescence Analysis on Thin and Intermediary Layers, Conference papers presented at the XVI Conference of Metallurgical Analysis, Ustron Polana, 9-12 October, 1995.
16. Qualitat im analytischen Labor, Quality in analytical laboratory, [Stavros Kromidas, Eds], VCH 1995, (in German).
17. Hertroys P. and de Vries J.L., Counting Strategy, Philips Scientific Reports, 16415/OL, (1976).

Typ dokumentu

Bibliografia

Identyfikator YADDA

bwmeta1.element.baztech-article-BPP1-0009-0095