Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Pochodzenie linii G w widmie Ramana diamentu otrzymywanego w procesie CVD
Języki publikacji
Abstrakty
This work presents the Raman and ESR spectroscopy investigation performed on the different quality CVD diamond films. Particularly the origin of the so-called G-line in the CVD diamond Raman spectrum is discussed.
Własności fizyczne cienkich warstw diamentowych otrzymywanych metodami CID bardzo silnie zależą od parametrów samego procesu CVD. Głównym czynnikiem mającym najsilniejszy wpływ na jakość warstw diamentowych jest koncentracja węglowodoru podczas wzrostu warstw diamentowych w procesie CID. Przedstawione są wyniki badań cienkich warstw diamentowych przy użyciu spektroskopii Ramana i ESR. Szczególna uwaga poświęcona została dyskusji pochodzenia tak zwanej linü G w widmie Ramana cienkich warstw diamentowych.
Słowa kluczowe
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
66--67
Opis fizyczny
Twórcy
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPP1-0004-0097