A database for the parameters of the Auger differential spectra

• Autorzy: Godowski P. J.

Warianty tytułu

PL

Baza danych parametrów widm różnicowych Augera

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The organization and structure of elaborated database of differential Auger spectra is presented. The first page of his set, available in complete form from the author, is demonstrated. The advantages page of taking into account the data set, in analytical work using Auger electron spectroscopy, are indicated.

PL

W pracy zaprezentowano strukturę i budowę bazy danych różniczkowych widm Augera. Przedstawiono pierwszą stronę zbioru, który w całości jest dostępny u autora. Zaznaczono zalety stosowania danych z tabeli w pracy analitycznej z zastosowaniem spektroskopii elektronów Augera.

Słowa kluczowe

PL

widmo Augera; spektroskopia

• Wydawca: Komitet Chemii Analitycznej PAN
• Czasopismo: Chemia Analityczna
• Rocznik: 1998
• Tom: Vol. 43, No. 6
• Strony: 987--993
• Opis fizyczny: Bibliogr. 17 poz.

Twórcy

autor

Godowski P. J.

• Institute of Experimental Physics, University of Wrocław, Pl. Maxa Borna 9, 50-204 Wrocław, Poland

Bibliografia

• 1. Davis L.E., MacDonald N.C., Palmberg P.W., Riach G.E. and Weber R.E., Handbook of Auger Electron Spectroscopy, Physical Electronics Industries Inc., Eden Prairie, Minnesota (1976).
• 2. Shiokawa Y., Isida T. and Hayashi Y., Auger Electron Spectra Catalogue - A Data Collection of Elements, Anelva Corporation, Tokyo (1979).
• 3. McGuire G.E., Auger Electron Spectroscopy Reference Manual, Plenum Press, New York (1979).
• 4. Sekine T., Nagasawa Y., Kudoh M., Sakai Y., Parkes A.S., Geller J.D., Mogami A. and Hirata K., Handbook of Auger Electron Spectroscopy, JEOL, Tokyo (1982).
• 5. Mróz S., Progress in Surface Science, 46, 377 (1994).
• 6. Grzeszczak A. and Kaszczyszyn S., Experim. Technique of Physics, 41, 117 (1995).
• 7. Grant J.T., Surface Interface Anal., 14, 271 (1989).
• 8. Godowski P. and Przybylski K., Vacuum, 39, 439 (1989).
• 9. Przybylski K. and Godowski P.J., Chem. Anal. (Warsaw), 35, 459 (1990).
• 10. Godowski P.J. and Przybylski K., Chem. Anal. (Warsaw), 36, 667 (1991).
• 11. Chang C.C., Analytical Auger Electron Spectroscopy in: Characterization of Solid Surfaces, ed. [Kane P.P. and Larrabee B., Eds.] Plenum Press, New York (1974).
• 12. Bumgarner S., Hofmeister S., Griffis D. and Russell P., J. Vac. Sci. Technol., A8, 2221 (1990).
• 13. Sevier K.D., Low Energy Electron Spectrometry, John Wiley & Sons Inc., New York (1972).
• 14. Taylor N.J., Rev. Sci. Instrum., 40, 792 (1969).
• 15. Anthony N.T. and Seah M.P., J. Electr. Spectrosc. Relat. Phenom., 32, 73 (1983).
• 16. Godowski P., Jarmakowicz J., Kubicki J. and Zabrzeski J., J. Mat. Sci. Lett., 8, 459 (1989).
• 17. Baer D.R. and Thomas M.T., J. Vac. Sci. Technol., A4, 1545 (1986).