XRF intermediate thickness layer technique for analysis of residue of hard to dissolve materials

• Autorzy: Mzyk Z. , Baranowska I. , Mzyk J. , Buzek Ł.

Warianty tytułu

PL

Technika XRF o pośredniej grubości warstwy w zastosowaniu do analizy pozostałości po roztwarzaniu trudno rozpuszczalnych materiałów

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

This work presents a quick method for lead and silver determination in materials, such as slags from silver metallurgy and slimes from copper electrorefining, which are very difficult to dissolve, even using a microwave technique. The idea was to dissolve the possibly greatest amount of a sample using acids. Insoluble deposit was filtered out.Silver content in the solution was analysed by potentiometric titration or AAS, lead content by the XRF, whilst sediment deposited on filter-by XRF intermediate thickness technique. The results of silver and lead analysis obtained by this method were compared with those obtained by classical method, i.e. melting the residue with sodium peroxide.

PL

Opracowano szybką metodę oznaczania ołowiu i srebra w materiałach trudno roztwarzalnych, nawet przy zastosowaniu techniki mikrofalowej, takich jak żużle z procesu wytapiania srebra i szlamy z elektrorafinacji miedzi. Metoda polega na roztworzeniu części próbki z użyciem kwasów, odsączeniu nieroztworzonej pozostałości, a następnie przeprowadzeniu oddzielnej analizy roztworu i stałej pozostalości osadzonej na filtrze. Roztwór analizowano metodą XRF, AAS i potencjometrycznie, zaś pozostałość osadzoną na filtrze za pomocą XRF, techniką warstw o pośredniej masie powierzchniowej. Wyniki uzyskane metodą XRF porównano z wynikami otrzymanymi metodą klasyczną polegającą na topieniu pozostałości z nadtlenkiem sodu.

Słowa kluczowe

PL

oznaczanie; roztwarzanie; rozpuszczalność

• Wydawca: Komitet Chemii Analitycznej PAN
• Czasopismo: Chemia Analityczna
• Rocznik: 1998
• Tom: Vol. 43, No. 2
• Strony: 179--184
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz.

Twórcy

autor

Mzyk Z.

• Institute of Non-Ferrous Metals, Gliwice, Poland

autor

Baranowska I.

• Department of Analytical and General Chemistry, Silesian Technical University, Gliwice, Poland

autor

Mzyk J.

• Institute of Non-Ferrous Metals, Gliwice, Poland

autor

Buzek Ł.

• Institute of Non-Ferrous Metals, Gliwice, Poland

Bibliografia

• 1. Minczewski J. and Marczenko Z., Chemia Analityczna, PWN Warszawa 1973, pp. 30-99.
• 2. Bertin E.P., Principles and Practice of X-Ray Spectrometric Analysis, Plenum Press, New York-London 1975, p. 621-627.
• 3. Addink N.W., Rev. Universelle Mines, 15, 530 (1959).
• 4. Giauge R.D. and Goulding J.M., Anal. Chem., 45, 671 (1973).
• 5. Eichoff H.J., Kiefer S.K., Method. Phys. Anal. 1966 (1), 43.
• 6. Haupt O., Klaue B., X-Ray Spectrom., 24, 267 (1995).
• 7. Sulkowski M., Hirner A.V., X-Ray Spectrom., 25, 83 (1996).
• 8. ISO Standard 5725, (1981).