Adjoint models in the time domain sensitivity analysis utilizing FEM for the identification of material conductivity distribution

• Autorzy: Gawrylczuk K. , Kugler M.

Warianty tytułu

PL

Modele dołączone do analizy wrażliwości w dziedzinie czasu z wykorzystaniem MES do identyfikacji rozkładu konduktywności

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper deals with numerical aspects of the sensitivity analysis in time domain. The dependence of adjoint model excitation from the way of the magnetic field measurement is discussed. The structure of adjoint model bases on a version of Tellegen s theorem for electromagnetic field theory. Proposed method finds application in inverse tasks of conductive material testing using eddy-currents.

PL

Praca prezentuje numeryczne aspekty analizy wrażliwościowej pola elektromagnetycznego w dziedzinie czasu. Pokazano sposób tworzenia modeli dołączonych i ich związek ze sposobem pomiaru pola. Struktura modeli dołączonych wynika z twierdzenia Tellegena dla teorii pola elektromagnetycznego. Proponowana metoda znajduje zastosowanie w zadaniach odwrotnych rozpoznawania struktury materiału przewodzącego w oparciu o metodę prądów wirowych.

Słowa kluczowe

EN

electromagnetic field; finite element method; sensitivity analysis

PL

pole elektromagnetyczne; metoda elementów skończonych; analiza wrażliwości

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2007
• Tom: R. 83, nr 11
• Strony: 212--215
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., rys.

Twórcy

autor

Gawrylczuk K.

autor

Kugler M.

• Szczecin University of Technology

Bibliografia

• [1] Kugler M., Application of sensitivity analysis of electromagnetic fields in the time domain by means of finite element method for the recognition of material's conductivity distribution, Ph.D. dissertation (in Polish), Szczecin University of Technology 2005
• [2] Zienkiewicz O.C., Morgan K., Finite Elements and Approximation, Willey&Sons 1983
• [3] Tellegen B.D.H., A General Network Theorem with Applications, Philips Research Reports, 7 (1952), 259-269
• [4] Dyck D.N., Lowther D.A., Freeman E.M., A Method of Computing the Sensitivity of Electromagnetic Quantities to Changes in Materials and Sources, IEEE Transactions on Magnetics, 30 (1994), 3415-3418
• [5] Haan V.O., Jong P.A., Analytical Expressions for Transient Induction Voltage in a Receiving Coil due to a Coaxial Transmitting Coil Over a Conducting Plate, IEEE Transactions on Magnetics, 40 (2004), 371-378
• [6] Gawrylczyk K.M., Kugler M., Time domain sensitivity analysis of electromagnetic quantities utilizing FEM for the identification of material conductivity distributions, COMPEL, 25 (2006), 589-598
• [7] Gawrylczyk K.M., Kugler M., Adjoint model excitation in time domain sensitivity analysis utilizing finite elements, Computer Applications in Electrical Engineering, Poli-Graf-Jak, 2(2006), 219-227