Fractal and harmonic analysis of surface roughness profile induced by ion beam irradiation

• Autorzy: Kowalski Z. , Martan J.

Warianty tytułu

PL

Analiza fraktalna i harmoniczna profili chropowatości powierzchni metali bombardowanych szeroką wiązką jonów argonu

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The paper presents fractal as well as harmonic analysis of metal surface roughness profiles induced by 800 eV argon broad ion beam. Changes of roughness parameter Ra together with microscopic observation of surface topography modification were used to verify the fractal and harmonic analysis results and to give relatively full picture of the surface morphological modification.

PL

W artykule przedstawiono analizę fraktalną i harmoniczną profili chropowatości powierzchni metali bombardowanych szeroką wiązką jonów argonu o energii 800 eV. Uzyskane wyniki weryfikowano eksperymentalnie badając zmiany parametru chropowatości Ra i obserwując modyfikację topografii rozpylanej jonami powierzchni.

Słowa kluczowe

EN

fractal analysis; harmonic analysis; surface roughness; ion beam

PL

analiza fraktalna; analiza harmoniczna; chropowatość powierzchni; wiązka jonów

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2008
• Tom: R. 84, nr 3
• Strony: 39--41
• Opis fizyczny: Bibliogr. 14 poz., rys.

Twórcy

autor

Kowalski Z.

autor

Martan J.

• Wrocław University of Technology,

Bibliografia

• [1] Kowalski Z.W., Morphology of ion sputtered surface – technological and biomedical implications (in Polish), Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, Wrocław 2001, Chapter 5.3, 67.
• [2] Mandelbrot B.B., The fractal geometry of nature. New York: W.H. Freeman and Company, 1983.
• [3] Zahouani H., Vargiolu R., Loubet J.–L., Mathl. Comput. Modeling, 28 (1998), 517-534.
• [4] Abrams C.F., Graves D.B., J. Vac. Sci. Technol. A, 16 (1998), 3006-3019.
• [5] Thomas T.R., Rosen B.–G., Amini N., Wear , 232 (1999), 41-50.
• [6] Przybylski G., Martan J., Kowalski Z.W., Vacuum, 70 (2003), 255-261.
• [7] Martan J., Przybylski G., Tabaka R., Kowalski Z.W., Vacuum, 78 (2005), 217-221.
• [8] Lasisz S., Radziński Z., Rangelow I., Beitr. elektronenmikroskop. Direktabb. Oberfl., 17 (1984), 69-74.
• [9] Russ J.C., Fractal surfaces. New York and London: Plenum Press, 1994.
• [10] Przybylski G., Martan J., Kowalski Z.W., Proc. VII Sci. Conf.. on Electronic Technology, ELTE 2000, Polanica Zdrój, Poland, 18-22.09.2000, Vol.2, ITM PWr, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2000, 903-907.
• [11] Kowalski Z.W., Martan J., Tabaka R., Elektronika, 11 (2003), 19-20.
• [12] Przybylski G., Wilk J., Kowalski Z.W., Proc. VII Sci. Conf.. on Electronic Technology, ELTE 2000, Polanica Zdrój, Poland, 18-22.09.2000, Vol.2, ITM PWr, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2000, 1029-1032.
• [13] Przybylski G., Wilk J., Kowalski Z.W., Proc. Int. Symp. NEET’2001, Kazimierz Dolny, Feb. 14-17, 2001, Lublin Technical University, 2001, 31-34.
• [14] Martan J., Kowalski Z.W., Elektronika, 6 (2005), 18-19.