Estymacja parametrów niezawodnościowych półprzewodnikowych źródeł światła

• Autorzy: Kopka R.

Warianty tytułu

EN

Estimation of reliability parameters of semiconductor light sources

• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki (8 ; 07-10.06.2009 ; Darłówko Wschodnie, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Coraz częściej półprzewodnikowe źródła światła zastępują tradycyjne żarówki. Ich bardzo duża żywotność wynika z własności emisji światła ze struktury półprzewodnika. To praktycznie eliminuje uszkodzenia związane z całkowitym zanikiem świecenia. Jednak zachodzące w takiej strukturze procesy degradacji istotnie zmniejszają ilość emitowanego światła. W pracy przedstawiono wyniki badań modelowana matematycznego pozwalającego szacować parametry niezawodnościowe półprzewodnikowych źródeł światła zarówno w oparciu o obserwację czasów do uszkodzeń nagłych jak i stopniowych, związanych z zachodzącymi procesami degradacji.

EN

Semiconductor light sources replace traditional incandescent lamp. Their very long durability is a consequence of performance of light emission from semiconductor structure. This almost completely eliminates hard failures results. But degradation processes existing in such structure seriously reduce the intensity of light emitted, generating soft failures. The paper presents mathematical modeling results enabling to estimate the reliability parameters of semiconductor light sources based on hard and soft failures as a result of degradation processes.

Słowa kluczowe

PL

półprzewodnikowe źródła światła; ocena niezawodności; procesy degradacji

EN

semiconductor light sources; reliability assessment; degradation processes

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2009
• Tom: R. 85, nr 11
• Strony: 313--316
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., wykr., schem.

Twórcy

autor

Kopka R.

• Politechnika Opolska, Wydział Elektrotechniki, Automatyki i Informatyki, ul. Sosnkowskiego 31, 45-272 Opole,

Bibliografia

• [1] Bae J. S., Kuo W., Kvam H. P., Degradation models and implied life time distributions, Reliability Engineering and System Safety, vol. 92, (2007), 601-608
• [2] Kopka R., Możliwość wykorzystania modelowania stochastycznego dla potrzeb oceny systemów bezpieczeństwa funkcjonalnego, Korbicz J. (red.), Patan K., Kowal Diagnostyka Procesów i Systemów, Oficyna Wydawnicza EXIT, Warszawa, 2007
• [3] Picchini U., SDE Toolbox: An introduction to the Simulation and the Numerical Solution of Stochastic Differential Equations with Matlab, http://sdetoolbox.sourceforge.net, (05.01.2008)
• [4] Fukuda M., Reliability and Degradation of Semiconductor Lasers and LEDs, Artech House, Boston, 1991
• [5] Zhao W., Elsayed E. A., An Accelerated Life Testing Model Involving Performance Degradation, Reliability and Maintainability, Annual Symposium-RAMS, (2004), 324-329
• [6] Park Ch., Padgett J. W., Accelerated Degradation Models for Failure Based on Geometric Brownian Motion and Gamma Processes. Lifetime Data Analysis, vol. 11, (2005), 511-527
• [7] Sobczyk K., Stochastyczne równania różniczkowe. WNT, Warszawa 1996
• [8] Kopka R., Szacowanie niezawodności elementów elektronicznych w oparciu o postępujący proces degradacji. Conference Computer Applications in Electrical Engineering ZKwE, Poznań, April 20-22, 2009