Ewolucyjna metoda diagnozowania wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych

• Autorzy: Korzybski M.

Warianty tytułu

EN

Evolutionary method for multiple parametric and catastrofic fault diagnosis

• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki (8 ; 07-10.06.2009 ; Darłówko Wschodnie, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiona została modyfikacja algorytmu diagnozowania wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych w liniowych i nieliniowych obwodach elektrycznych pozwalająca bardzo często na istotne skrócenie czasu obliczeń potestowych. Jest to efekt uwzględnienia faktu dużo większego prawdopodobieństwie występowania uszkodzeń katastroficznych niż parametrycznych. Umożliwiło to w wielu przypadkach eliminację procesu dokładnej identyfikacji uszkodzenia wykorzystującego algorytm genetyczny.

EN

The paper deals with a modyfication of an algorithm for multiple parametric and catastrofic fault diagnosis in linear and nonlinear electronic circuits, which enable us frequently to shorten the after-test computation time. Due to the greater probability of catastrofic than parametric fault occurrence the process of exactly fault identyfication, which uses genetic algorithm, can be often eliminated.

Słowa kluczowe

PL

układy elektryczne; algorytmy genetyczne; uszkodzenia parametryczne; uszkodzenia katastroficzne

EN

electric circuit; parametric faults; catastrofic faults; genetic algorithm; diagnosis

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2009
• Tom: R. 85, nr 11
• Strony: 195--198
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., schem.

Twórcy

autor

Korzybski M.

• Politechnika Łódzka, Instytut Elektrotechniki Teoretycznej, Metrologii i Materiałoznawstwa, ul. Stefanowskiego 10/22, 90-924 Łódź,

Bibliografia

• [1] Bandler J.W., Salama A.E., Fault diagnosis of analog circuits, Proceedings IEEE, 73 (1981), 1279-1325
• [2] Lin P.M., Elcherif Y.S., Analoque circuits fault dictionary – New approaches and implementation, International Journal of Circuit Theory and Applications, 13 (1985), 149-172
• [3] Ozawa T., Analog Methods for Computer Aided Analysis and Diagnosis, New York, USA: Marcel Dekker, 1988
• [4] Liu D., Starzyk J.A., A Generalized Fault Diagnosis Method in Dynamic Analogue Circuits, International Journal of Circuit Theory and Applications, 30 (2002), 487-510
• [5] Rutkowsk i J., Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych, Warszawa, Polska: Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, 2003
• [6] Tadeusiewicz M., Hałgas S., An Algorithm for Multiple Fault Diagnosis in Analogue Circuits, International Journal of Circuit Theory and Applications, 34 (2006), 607-615
• [7] Korzybski M., Dictionary method for multiple soft and catastrofic fault diagnosis based on evolutionary domputation, Proceedings of International Conference on Signals and Electronic Systems – ICSES 2008, 553-556
• [8] Ferreira C., Gene expression programming: a new adaptive algorithm for solving problem, Complex Systems, 13 (2000), n.2, 87- 129
• [9] Goldberg D.E., Genetic Algorithms in Search, Optimisation and Machine Learning, Adison-Wesley, 1989
• [10] Korzybski M., Zastosowanie metody ewolucyjnej do lokalizacji i identyfikacji uszkodzeń, Materiały VI Krajowej Konferencji Elektroniki, Darłowo 2007, 169-174
• [11] Korzybski M., Zastosowanie algorytmów genetycznych do lokalizacji i identyfikacji uszkodzeń, Materiały XXV IC-SPETO, (2002), 443-446