Ewolucyjna metoda identyfikacji diagnostycznego stanu liniowego układu analogowego

• Autorzy: Golonek T. , Grzechca D. , Rutkowski J.

Warianty tytułu

EN

Evolutionary method for diagnostic state identification of a linear analog circuit

• Konferencja: Krajowa Konferencja Elektroniki (8 ; 07-10.06.2009 ; Darłówko Wschodnie, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule zaprezentowano ewolucyjną metodę identyfikacji stanu liniowego układu analogowego. Detekcja stanu dokonywana jest na podstawie analizy odpowiedzi czasowej. System ewolucyjny wykorzystuje ewolucję różnicową do poszukiwania optymalnego rozkładu zer, biegunów i współczynnika wzmocnienia transmitancji, który zapewni odpowiedź czasową identyczną jak w układzie identyfikowanym. W trakcie oceny fenotypu obliczana jest odchyłka bezwzględna pomiędzy przebiegami, która podlega minimalizacji w toku ewolucji.

EN

The evolutionary approach described in the paper allows to identify the analog circuit state. The analysis of a time response is used for circuit state recognition. The evolutionary system is basing on differential evolution and it is searching for the optimal zeros, poles and amplification coefficient decomposition which assure a time response identical as in the tested circuit. An absolute deviation is calculated during fitness evaluation and it is minimized during evolution.

Słowa kluczowe

PL

układy analogowe; diagnostyka; ewolucja różnicowa; transmitancja

EN

analog fault; diagnosis; differential evolution; transfer function

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2009
• Tom: R. 85, nr 11
• Strony: 135--138
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., rys., tab., schem.

Twórcy

autor

Golonek T.

autor

Grzechca D.

autor

Rutkowski J.

• Politechnika Śląska, Instytut Elektroniki, ul. Akademicka 16, 44-100 Gliwice,

Bibliografia

• [1] Milor L.S., A Tutorial Introduction to Research on Analog and Mixed-Signal Circuit Testing, IEEE Trans. Cir. Syst.-II, 45 (1998), n.10, 1389–1407
• [2] Pen-Min Lin, Elcher i f Y.S. , Computational Approaches to Fault Dictionary, Analog Methods for Computer-Aided Circuit Analysis and Diagnosis, M.Dekker, (1998)
• [3] Golonek T., Grzechca D., Rutkowski J., Optimization of PWL Analog Testing Excitation by Means of Genetic Algorithm, Int. Conf. on Signal and Electr. Syst., Kraków, (2008), 541–544
• [4] Starzyk J. A., Dong Liu, Zhi-Hong Liu, Nelson D.E., Rut kowsk i J., Entropy-Based Optimum Test Points Selection for Analog Fault Dictionary Techniques, IEEE Trans. Instr. Measur., 53 (2004), n.3, 754-761
• [5] Golonek T., Rutkows ki J., Genetic-Algorithm-Based Method for Optimal Analog Test Points Selection, IEEE Trans. Cir. Syst.-II., 54 (2007), n.2, 117-121
• [6] Price K., Storn R., Lampinen J., Differential Evolution - A Practical Approach to Global Optimization, Springer, (2005)
• [7] Goldberg D.E., Genetic Algorithms in Search / Optimization and Machine Learning, Addison Wesley, (1989)