Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
The verification of the method of threshold measurement of the signal disturbed the random component about the uniform distribution
Konferencja
Krajowa Konferencja "Diagnostyka techniczna urządzeń i systemów" - DIAG'2009 (7 ; 19-23.10.2009 ; Ustroń, Polska)
Języki publikacji
Abstrakty
W artykule przedstawiono metodę pomiarów progowych. Weryfikacja metody pomiarowej została przeprowadzona w układzie laboratoryjnym. W badaniach wykorzystano dwa typy sygnałów, jeden o stałej wartości, drugi w postaci skoku jednostkowego. Oba sygnały zakłócone zostały składową losową o rozkładzie równomiernym. Przeprowadzone badania pozwoliły określić wpływ długości okna dozorowania L, dystansu progowego [delta] X i okresu próbkowania TP na właściwości pomiarowe metody.
This article presents a measuring threshold method. Verification of the measuring method was carried out in the laboratory model. The studies used two types of signals, one with a fixed value, the second in a jump unit. Both signals have been distorted by a random distribution of the uniform. Research has shown the impact of surveillance: the window length L, the threshold distance [delta] X and the sampling period TP on the properties of measurement method.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
79--82
Opis fizyczny
Bibliogr. 7 poz., rys., wykr., schem.
Twórcy
autor
autor
autor
autor
- Wojskowa Akademia Techniczna, Instytut Systemów Elektronicznych, ul. Kaliskiego 2, 00-908 Warszawa, krzysztof.falkow@wel.wat.edu.pl
Bibliografia
- [1] Będkowski L., Dąbrowski T.: Podstawy eksploatacji, cz.2. Podstawy niezawodności eksploatacyjnej. Wyd. WAT Warszawa 2006, ss. 187.
- [2] Będkowski L., Dąbrowski T.: Aktywne zwiększanie niezawodności w procesach eksploatacyjnych. XXXV Zimowa Szkoła Niezawodności „Problemy niezawodności systemów”, Szczyrk, 8÷12.01.2007, ss. 71÷83.
- [3] Będkowski L.: Diagnozowanie z dwupoziomową komparacją niepewnych symptomów i syndromu stanu obiektu. Diagnostyka, Vol. 2(38)/2006, ss. 109÷114.
- [4] Fokow K.: Metoda pomiarów progowych z dyskretną adaptacja progów komparacyjnych. Przegląd Elektrotechniczny, Vol. 5 2008, ss. 325÷330.
- [5] Advantech: User’s Manual PCI-1710 Series, June 2001.
- [6] National Instruments: “Measurement Studio Version 8.5”, 2008.
- [7] Jha N., Gupta S: “Testing of Digital Systems”, Cambridge University 2003.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPOM-0018-0013