Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Electric field measurement system based on electro-optic Kerr effect
Języki publikacji
Abstrakty
Tradycyjne metody, stosowane do pomiaru natężenia pola elektrycznego na powierzchni wysokonapięciowych układów izolacyjnych, ingerują w pierwotny rozkład pola i uśredniają uzyskiwane wyniki. Z tego względu wzrasta zainteresowanie sposobami pomiaru natężenia pola elektrycznego opartymi na zjawiskach elektrooptycznych. W artykule zaprezentowano koncepcję metody opartej na zjawisku Kerra oraz potrzebny do jej zrealizowania układ pomiarowy. Opracowano kryteria doboru poszczególnych elementów układu i przedstawiono wybrane na ich podstawie urządzenia.
Methods, commonly used for electric field measurement on surface of high voltage insulating systems, influence original electric field distribution and give an average value of electric field strength. So, the interest in electric field measurement methods, based on electro-optic phenomena, increases. The article presents an idea of measurement method based on Kerr effect and measurement setup necessary for its application. Choice criteria of the setup components as well as chosen devices are presented.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
57--59
Opis fizyczny
Bibliogr. 9 poz., rys., wykr.
Twórcy
autor
autor
- Politechnika Poznańska, Instytut Elektroenergetyki, ul. Piotrowo 3a, 60 965 Poznań, zbigniew.nadolny@put.poznan.pl
Bibliografia
- [1] Gacek Z., Wysokonapięciowa Technika Izolacyjna,Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice 2006, 22
- [2] Fleszyński J., Pohl Z., Różecki S., O potrzebie optymalizacji kształtu i parametrów konstrukcyjnych elektroenergetycznych izolatorów kompozytowych, Przegląd Elektrotechniczny – Konferencje, rok 2006, nr 1, VIII Ogólnopolskie Sympozjum Inżynieria Wysokich Napięć „IW 2006”, Poznań-Będlewo, 8-10 maja 2006, 75-78
- [3] Gielniak J., Mościcka-Grzesiak H., Rozkład napięcia wzdłuż wybranych izolatorów liniowych wyznaczany metodą symulacji komputerowej i pomiarów laboratoryjnych, V Ogólnopolskie Sympozjum Inżynieria Wysokich Napięć IW-2000, Poznań-Kiekrz, 22-24 maja 2000, 117-124
- [4] Hebner R. E. Malewski R. A., Cassidy E.C., Optical Methods of Electrical Measurement at High Voltage Levels, Proceedings of the IEEE, vol. 65, No. 11, Nov. 1977, 1524- 1548
- [5] Hidaka K. , Electric Field and Voltage Measurement by Using Electro-Optic Sensor, XIth International Symposium on High-Voltage Engineering, ISH 99, London, Aug. 22-27, 2.1.S2
- [6] Helgeson A., Zahn M., Kerr Electro-optic Measurements of Space Charge Effects in HV Pulsed Propylene Carbonate, IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation, Vol. 9, No. 5, Oct. 2002, 838-844
- [7] Santos J. C., Taplamacioglu M. C., Hidaka K. , Pockels High-Voltage Measurement System, IEEE Transactions On Power Delivery, Vol. 15, No. 1, Jan. 2000, 8-13
- [8] Honscha M., Schwartz H., The Ability of Adhesives to Optical Voltage Sensors, International Conference on Advances in Processing Testing and Application of Dielectric Materials APTADM’2007, Sept. 26-28, 2007, Wroclaw, Poland, 160-164
- [9] Merte R., Measurements of electric fields with an electrooptic miniature probe, XVth International Symposium on High Voltage Engineering, Slovenia, Aug. 27-31, 2007, T1-507
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPOM-0008-0016