Uwzględnienie wymagań EMC w procesie projektowania oprogramowania wbudowanego na przykładzie przemysłowego analizatora promieniowania gamma

• Autorzy: Kryca M. , Kozłowski A. , Pietrzak R.

Warianty tytułu

EN

Consideration of EMC aspects during process of embedded software design of industrial gamma radiation analyzer

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiony niżej tekst opisuje jeden z aspektów konstruowania oprogramowania wbudowanego, a mianowicie powiązania oprogramowana z procesem oceny kompatybilności elektromagnetycznej. Badania EMC utożsamiane z oceną części sprzętowej urządzenia są w znaczący sposób uzależnione od zaimplementowanego oprogramowania, co wykazano na podstawie urządzenia stosowanego w pomiarach przemysłowych.

EN

This paper presents one of the aspects of embedded software design process. EMC certification is usually equated with hardware matter of device, but results of this evaluation are strongly interlinked with software. Influences of programming solutions on behavior of industrial measuring device being under EMC tests were described.

Słowa kluczowe

PL

EMC; oprogramowanie wbudowane

EN

EMC; embedded software

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2012
• Tom: R. 88, nr 6
• Strony: 234--239
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., schem.

Twórcy

autor

Kryca M.

autor

Kozłowski A.

autor

Pietrzak R.

• Instytut Technik Innowacyjnych EMAG, Katowice,

Bibliografia

• [1] Murata Manufacturing Co.,Ltd., Noise Suppression Techniques. Conditions for Electromagnetic Interference and Future Trends. [Online] [Zacytowano: 03.12.11] http://www.murata.com/products/emc/knowhow/index.html.
• [2] Ganssle J., Watching the watchdog, Embedded Systems Programming, marzec 2003 r.,vol 16.
• [3] Carlton R., Racino G., Suchyta J., Improving The Transient Immunity Performance of Microcontroller-Based Applications, Freescale Semiconductor Application Note AN2764 [Online] [Zacytowano: 22.04.12] http://www.freescale.com/files/microcontrollers/doc/app_note/AN2764.pdf.
• [4] O’Hara M., The EMC Impact of Embedded Software, [Online] Conformity, wrzesień 2007 [Zacytowano: 22.04.12] http://www.conformity.com/artman/publish/printer_214.shtml.
• [5] Brotz J., Software techniques for comprehensive EMC testing of embedded systems, EE Times Design [Online] 28.5.2008. [zacytowano: 03.12.2011] http://www.eetimes.com/design/embedded/4007591/Softwaretechniques- for-comprehensive-EMC-testing-of-embeddedsystems.
• [6] STMicroelectronics., Software techniques for improving microcontroller EMC performance, Application note AN1015 [Online] [Zacytowano: 22.04.12] http://www.datasheetcatalog.org/datasheet/SGSThomsonMicro electronics/mXyytzw.pdf.
• [7] Ferguson M., Noise Issues and Solutions in MCU-Based Systems, Embedded Systems Conference Silicon Valley 2008 [Online] kwiecień 2008. [Zacytowano: 03.12.2011] http://am.renesas.com/media/company_info/news_and_events/mcu_promo/ESC-120_Ferguson_PPT.pdf.