Multidimensional search space in testing and diagnosis of analogue electronic circuits

• Autorzy: Kyzioł P. , Grzechca D. , Rutkowski J.

Warianty tytułu

PL

Testowanie i diagnostyka analogowych układów elektronicznych z wykorzystaniem wielowymiarowej przestrzeni poszukiwań

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

In this paper a new testing method of an analogue electronic circuits is presented. The method is based on the idea of using multidimensional search space in order to increase testability and observability of the circuit under test (CUT). Heuristic algorithm particle swarm optimization (PSO) has been applied for continuous optimization problem. Practical example is considered and results shows that using more than one dimension during test of CUT can significantly improve number of unequivocally located states of CUT.

PL

W tym artykule nowa metoda testowania analogowych układów elektronicznych została zaprezentowana. Metoda testowania wykorzystuje wielowymiarową przestrzeń poszukiwań. Zaprezentowane rezultaty badań wyraźnie pokazują, że użycie więcej niż jednego wymiaru podczas testowania układu elektronicznego pozwala na zwiększenie liczby jednoznacznie lokalizowanych stanów testowanego układu.

Słowa kluczowe

EN

multidimensional search space; analog circuits; particle swarm optimization (PSO)

PL

wielowymiarowa przestrzeń poszukiwań; CUT; PSO

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2010
• Tom: R. 86, nr 11a
• Strony: 251--255
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Kyzioł P.

autor

Grzechca D.

autor

Rutkowski J.

• Silesian University of Technology, Gliwice, Poland,

Bibliografia

• [1] Maurice Clearc, “Particle Swarm Optimization,” ISTE, 2005
• [2] Kyzioł P., Grzechca D., Golonek T., Rutkowski J., The Use of Variable Load for RF Circuit Testing, ICSES 2008, pp. 557-560
• [3] Kabisatpathy, P., Barua, A., Sinha, S., “Fault Diagnosis of Analogue Integrated Circuits”, Springer, 2005
• [4] Rutkowski J., „Dictionary diagnostic methods“, WKŁ 2003
• [5] Toczek W., “Strategie testowania i diagnostyki analogowych układów elektronicznych”, Wydawnictwo PG, Gdańsk 2009
• [6] http://focus.ti.com/docs/prod/folders/print/trf7960.html , (2009)
• [7] Grzechca D. “Simulated Annealing with Fuzzy Fitness Function for Test Frequencies Selection”, FUZZ-IEEE, UK 2007
• [8] Grzechca D., Czeczótka S., Faults Classification in Analog Electronic Circuits with use of the SVM algorithm, Metrology and Measurement Systems, vol.XVI, no.3, 2009,
• [9] Jantos P., Grzechca D., Rutkowski J., Global Parametric Faults Identification in Analog Electronic Circuits, Metrology and Measurements Systems, vol.XVI, no.3, 2009, pp. 391-402
• [10] Pramodchandran N. Variyam, Abhijit Chatterjee, Test generation based diagnosis of device parameters for analog circuits, Design, Automation and Test in Europe, 2001. Conference and Exhibition 2001, pp. 596 - 602
• [11] Golonek T., Rutkowski J., Genetic-Algorithm-Based Method for Optimal Analog Test Points Selection, IEEE Trans. On Cir. And Syst.-II., vol. 54, no. 2, 2007, pp. 117-121