Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Właściwości metrologiczne piezorezystorów grubowarstwowych stosowanych w miniaturowych sensorach ciśnienia
Języki publikacji
Abstrakty
A theoretical analysis concerning metrological features of thick film piezoresistors placed on circular edge-clamped membrane in pressure sensors is described. The change of resistance of a thick film piezoresistor, caused by the deflection of the membrane, related to the distance from the membrane centre and the width of the piezoresistor, is evaluated. Analytical expressions for different piezoresistors arrangements are presented and discussed.
W artykule przeanalizowano wybrane właściwości metrologiczne piezorezystorów grubowarstwowych - o kształcie wycinka pierścienia kołowego lub o kształcie prostokąta - stosowanych w miniaturowych sensorach ciśnienia o membranie kołowej. Podano wzory opisujące rezystancję piezorezystorów w stanie nieobciążonym oraz poddanych odkształceniom dla różnych ich położeń na powierzchni membrany.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
200--203
Opis fizyczny
Bibliogr. 3 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
autor
- Politechnika Lubelska, Wydział Elektrotechniki i Informatyki, Katedra Automatyki i Metrologii, j.majewski@pollub.pl
Bibliografia
- [1] Prudenziati M., (ed.), “Thick Film Sensors”, Elsevier Science B.V., Amsterdam, The Netherlands 1994
- [2] Grimaldi C., Ryser P., Strässler S., Gauge factor of thick film resistors: outcomes of the variable range hopping model, Journ. Appl. Phys., 88 (2000), 41-64
- [3] Grimaldi C., Ryser P., Strässler S., Piezoresistive anisotropy of thick-film resistors, Journ. Europ. Ceramic Soc., 24 (2004), 1893-1896
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPOK-0022-0002