Approximate BEM analysis of a thin electromagnetic shield of variable thickness

• Autorzy: Jabłoński P.

Warianty tytułu

PL

Przybliżona analiza cienkościennego ekranu elektromagnetycznego o zmiennej grubości za pomocą MEB

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Praca dotyczy przybliżonej analizy ekranu elektromagnetycznego o zmiennej grubości. Proponowana metoda wykorzystuje metodę elementów brzegowych (MEB), ale w celu uniknięcia całek prawie osobliwych w obszarze ekranu stosuje się rozwiązanie półanalityczne. Powoduje to nie tylko zmniejszenie błędów numerycznych, ale także redukuje zapotrzebowania na pamięć operacyjną i czas obliczeń.

EN

The paper concerns an approximate analysis of an electromagnetic shield of variable thickness. The method is based on the boundary element method (BEM), but to avoid nearly singular integrals the analysis uses a semi-analytical solution for the shield. This makes the numerical errors smaller, and also reduces the memory used and the computation time.

Słowa kluczowe

PL

metoda elementów brzegowych; ekranowanie elektromagnetyczne; cienkie warstwy

EN

boundary element method; electromagnetic shielding; thin shells

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2012
• Tom: R. 88, nr 3a
• Strony: 61--63
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., wykr.

Twórcy

autor

Jabłoński P.

• Częstochowa University of Technology, Electrical Faculty, al. Armii Krajowej 17, 42-200 Częstochowa,

Bibliografia

• [1] Brebbia C.A.: The boundary element method for engineers. Pentech Press, London 1978.
• [2] Kurgan E.: Analiza pola magnetostatycznego w środowisku niejednorodnym metodą elementów brzegowych. Rozprawy Monografie 81, Uczelniane Wyd. Nauk.-Dyd., Kraków 1999.
• [3] Jabłoński P.: Metoda elementów brzegowych w analizie pola elektromagnetycznego. Wyd. Pol. Cz., Częstochowa 2003.
• [4] Sikora J.: Podstawy metody elementów brzegowych. Zagadnienia potencjalne pola elektromagnetycznego, Wydawnictwo Książkowe Instytutu Elektrotechniki, W-wa 2009.
• [5] Krähenbühl L., Muller D.: Thin layers in electrical engineering. Example of shell models in analyzing eddycurrents by boundary and finite element methods, IEEE Transactions on Magnetics, 29 (1993), 2, 1450-1455.
• [6] Bao Z., Mukherjee S.: Electrostatic BEM for MEMS with thin conducting plates and shells, Eng. Anal. with Bound. El. 28 (2004), 1427-1435.
• [7] Jabłoński P.: Approximate BEM analysis of thin electromagnetic shield, Proceedings of XXXIV IC-SPETO 2011, Gliwice-Ustroń, 18-21.05.2011, 17-18.
• [8] Jabłoński P.: Approximate BEM analysis of thin magnetic shield of variable thickness, Proceedings of XXI Sympozjum PTZE, Zamek Lubliniec 5-8.06.2011, 81-83.