Jitter investigation in dual channel simultaneous sampling measurement methods

• Autorzy: Jóśko A. , Olędzki J.

Warianty tytułu

PL

Analiza szumu fazowego w dwukanałowych układach pomiarowych

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Dual channel simultaneous sampling measurement methods of power, phase angle or impedance are highly affected by the jitter of the A/D converter. Thus it is necessary to determine the jitter in the validation procedure of a particular measurement method. The article concerns the Authors’ research continuation, this time based on extended measurement setup for detailed jitter analysis, with two independent signal sources and A/D converter circuits.

PL

W dwukanałowych pomiarach próbkujących duży wpływ na wynik pomiaru mocy, kąta fazowego, czy impedancji, może wywierać szum fazowy (jitter) przetwornika A/C. Oszacowanie wartości tego szumu jest niezbędnym krokiem przy walidacji wybranej metody pomiarowej. W artykule przedstawiono wyniki kontynuowanych przez Autorów badań, w których tym razem, w celu przeprowadzenia analizy wykorzystano dwa niezależne źródła sygnałów i dwa układy przetworników A/C.

Słowa kluczowe

EN

dual channel analog-digital conversion; jitter; phase noise

PL

przetwarzanie analogowo-cyfrowe dwukanałowe; jitter; szum fazowy

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2012
• Tom: R. 88, nr 3a
• Strony: 31--33
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., schem., wykr.

Twórcy

autor

Jóśko A.

autor

Olędzki J.

• Warsaw University of Technology, Institute of Theory of Electrical Engineering, Measurement and Information Systems, 75 Koszykowa Str., 00-662 Warsaw,

Bibliografia

• [1] Langard Y., Balat J. L., Durand J., An improved method of ADC jitter measurement, Proceedings IEEE Int. Test Conf., 1994, 763–770
• [2] Tangelder R. J. W. T., Vries de, H., Rosing, R.. Kerkhoff, H.G., Sachdev M., Jitter and Decision-level Noise Separation in A/D Converters. 16th IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference, IMTC 1999, 24-26 May 1999, Venice, Italy
• [3] Jóśko A., Olędzki J., Phase noise in dual channel simultaneous sampling voltmeter measurement methods, Przegląd Elektrotechniczny / Electrical Review, nr 01,(2010).
• [4] Jóśko A., Olędzki J., Measurement setup with dual channel simultaneous sampling A/D converter - uncertainty of jitter estimation. Przegląd Elektrotechniczny / Electrical Review, nr 05, (2011)
• [5] Travis Ch., Lesso P., Specifying the Jitter Performance of Audio Components, Convention Paper, Audio Engineering Society, 117th Convention, San Francisco, 2004