Hardware and software for electronic circuit diagnostics

• Autorzy: Blagitko B. , Brygilevych V. , Rabyk V.

Warianty tytułu

PL

Sprzęt i oprogramowanie systemu diagnostyki układów elektronicznych

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Theoretical and practical aspects of diagnostics of the electronic circuits in the DC and in the frequency domain, and required for this purposes hardware and software were considered. The embedded microprocessor system for the node potentials measurement, software and examples of diagnostics of the electronic circuits in the DC and in the frequency domain were described.

PL

W pracy przedstawiono teoretyczne i praktyczne aspekty diagnostyki układów elektronicznych przy prądzie stałym i w dziedzinie częstotliwości oraz niezbędne dla tego oprogramowanie i sprzęt pomiarowy. Przedstawiono opis wbudowanego systemu mikroprocesorowego dla pomiaru potencjałów węzłowych, oprogramowanie oraz przykłady diagnostyki układów elektrycznych przy prądzie stałym i w dziedzinie częstotliwości.

Słowa kluczowe

EN

measurement; testing; circuit diagnostics; nodal potentials

PL

pomiar; testowanie; wykrywanie uszkodzeń; układ elektroniczny; potencjały węzłowe

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2012
• Tom: R. 88, nr 3a
• Strony: 13--15
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., schem., tab., wykr.

Twórcy

autor

Blagitko B.

autor

Brygilevych V.

autor

Rabyk V.

• Tarnavskego 107, 79017 Lviv, Ukraine,

Bibliografia

• [1] Благитко Б.Я., Рабык В.Г. Основы теории диагностики аналоговых электронных цепей по постоянному току. Теоретическая электротехника, 1988, Вып. 44, С. 121 - 129.
• [2] Благитко Б.Я., Рабык В.Г. Методы диагностики аналоговых цепей в частотной области. Теоретическая электротехника, 1987, Вып. 52 , С. 45-55.
• [3] Благитко Б.Я., Рабык В.Г. Влияние погрешности измерения узловых потенциалов на результаты диагностики электрических цепей. – Теоретическая электротехника, 1990, Вып. 48, С. 101 – 108.
• [4] Бэндлер Дж., Салама А.Э. Диагностика неисправностей в аналоговых цепях , ТИИЭР, 1985, т. 73, №8, C. 35-104.
• [5] C. Alippi, M. Catelani, A. Fort, M. Mugnaini. Automated Selection of Test Frequencies for Fault Diagnosis in Analog Electronic Circuits. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2005, Vol. 54, №3, P. 1033 – 1044.
• [6] Wetterlin S. A. Method of Using Quadrature Sampling to Measure Phase and Magnitude. – 7p. // http://www.wetterlin.org/sam/Quadrature Sampling.pdf
• [7] Czaja Z. Fault diagnosis of fully differential circuits in electronic embedded systems / Z. Czaja, W. Toczek. – XIX IMEKO World Congress Fundamental and Applied Metrology. – Lisbon, Portugal, September, 2009. P. 1418–1423.