Badania odporności układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne impulsowe

• Autorzy: Kołodziejski J. , Daniluk T. , Szermer M. , Szczęsny J.

Warianty tytułu

EN

Investigations of integrated circuits immunity to EM pulse disturbances

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy opisano metody badań odporności układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne, a zwłaszcza zaburzenia impulsowe. Szczególną uwagę poświęcono generacji odpowiednich sygnałów testowych oraz sposobom ich sprzęgania z badanym układem.

EN

In the work the methods of testing integrated circuits immunity to electromagnetic disturbances, and especially pulse disturbances, are described. Particular attention was paid to the generation of relevant test signals and coupling of these signals with the tested circuits.

Słowa kluczowe

PL

układy scalone; odporność na zaburzenia EM; zaburzenia impulsowe; generacja sygnałów testowych

EN

ICs; immunity to EM disturbances; pulse disturbances

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2007
• Tom: R. 83, nr 9
• Strony: 18--20
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz., rys.

Twórcy

autor

Kołodziejski J.

autor

Daniluk T.

autor

Szermer M.

autor

Szczęsny J.

• Politechnika Warszawska,

Bibliografia

• [1] Kołodziejski J.F., Kompatybilność elektromagnetyczna układów scalonych – metody badań emisji i odporności, propozycje dotyczące modelowania, Politechnika Łódzka Zeszyty Naukowe Elektryka Nr 100, Łódź 2003, Mat. III Krajowego Sympozjum EMC’03, 9-18
• [2] Kołodziejski J.F., Szczęsny J., Testing of penetration of E and H fields into ICs, Proc. of 4th Int. Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, March 31st – April 1st 2004, Angers, France, 168-172
• [3] Sevick, J., A Simplified Analysis of the Broadband Transmission Line Transformers, High Frequency Electronics, February 2004, 48-53
• [4] Daniluk, T., Generator impulsów pikosekundowych na tranzystorach MESFET – projekt i realizacja praktyczna, Elektronika, w druku