Model źródła przewodzonych zaburzeń elektromagnetycznych – weryfikacja, zastosowanie

• Autorzy: Ruszel P.

Warianty tytułu

EN

Results of theoretical and empirical verification research of model of the semiconductor switch

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Niniejsze opracowanie zawiera wyniki prac teoretycznych i doświadczalnych weryfikujących proponowany przez autora model klucza tranzystorowego. Model ten reprezentuje klucz tranzystorowy jako źródło przewodzonych zaburzeń elektromagnetycznych. Określono ograniczenia i zakres częstotliwości w którym proponowany model reprezentuje modelowany klucz tranzystorowy. Podano przykład aplikacji modelu do określenia poziomu zakłóceń przy zastosowaniu programu symulacyjnego i porównano otrzymane wyniki obliczeń z wynikami pomiarów laboratoryjnych. Pomiary wykonano za pomocą „tradycyjnych” odbiorników pomiarowych.

EN

This paper presents result of theoretical and empirical verification research of model of the semiconductor switch. This model that, is a representation of semiconductor switch as a wide frequency range sours of the conducted disturbance, is proposed by the author. Frequency range and boundary validation of the model are presented. Give an example of the model application to determine of the level of disturbance generated in the simple circuits. Compare results of computations and results of experiments. Measurements of the level of the conducted disturbances are by measurement receiver carry out.

Słowa kluczowe

PL

zaburzenia przewodzone; klucz tranzystorowy; kompatybilność elektromagnetyczna

EN

conducted electromagnetic disturbance; semiconductor switch; electromagnetic compatibility

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2010
• Tom: R. 86, nr 3
• Strony: 168--171
• Opis fizyczny: Bibliogr. 19 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Ruszel P.

• Politechnika Wrocławska, Wydział Podstawowych Problemów Techniki, Instytut Inżynierii Biomedycznej i Pomiarowej, ul. Wybrzeże Wyspiańskiego 27 50-370 Wrocław,

Bibliografia

• [1] Muttaqi K. M., Haque M.E., Electromagnetic Interference Generated from Fast Switching Power Electronic Devices. International Journal of Innovations in Energy Systems and Power, vol. 3, no.1, April 2008, pp. 19-26
• [2] Musznicki P., Schanen J., Granjon P., Chrzan P. J .,The Wiener Filter Applied to EMI Decomposition, IEEE Transaction on Power Electronics, vol. 24, no. 6, November 2008 pp. 3088 – 3093
• [3] John V., Suh B.S., Lipo T., Hide Performance Active Gate Drive for High – Power JGBTs, IEEE Industry Applications, 35, 1999, pp. 1108-1117
• [4] Hołownia J ., A State Spase Analysis Exampler of Transient Noise Generation in Electrical Circuits. IEEE Transaction on Electromagnetic Compatibility, vol EMC-18, no3, August 1976 pp.97-105
• [5] Tihanyi L., Electromagnetic Compatibility in Power Electronics. IEEE Press The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. New York, N.Y., U.S.A. 1995
• [6] Muttaqi K. M., Haque M.E., Electromagnetic Interference Generated from Fast Switching Power Electronic Devices. International Journal of Innovations in Energy Systems and Power, vol. 3, no.1, April 2008, pp. 19-26
• [7] Musznicki P. , Schanen L., Granjon P., Chrzan P., EMI estimation for DC/DC hard switching converter using Wiener filter, in Proc. 12th Int. Power Electron. Motion Control Conf. EPE – PEMC, 2006, pp. 473-478
• [8] Heirman D.N., Morris R.C.; Crosby S.M., Design for Multinational EMC Compliance, AT&T Technical Journal, May/June 1990 pp. 28-45
• [9] Montrose Mark I .; Printed Circuit Board Design Techniques for EMC Compliance, 2nd ED, IEEE Press, 2000
• [10] Kye Yak See, Manish Oswal, Werachet Khanngern, Flavio Canagero, Chr i s t os Christopoulos, Harmut Grabinsk i , Impact of PCB Layout Design on Final Product’s EMI Compliance, 17th International ZurichSymposium on Electromagnetic Compatibility, 2006, pp. 553- 556
• [11] Krishna Shenai , Spacecraft Power Systems Design to Minimize Electro Magnetic Interference (EMI) Effects, Progress In Electromagnetic Research Symposium, 2007, Prague, Czech Republic, August 27-30, pp. 25-29
• [12] Belov Vladimir, Shamaev Alexey, Leisner Peter, Johansson Alf, Magnhagen Bengt , Belov Ilja, (2006) "A Simulation-based Spectral Technique for Power Quality and EMC Design of an Independent Power System," International Journal of Emerging Electric Power Systems: Vol. 7 : Iss. 1, Article 7. Available at: http://www.bepress.com/ijeeps/vol7/iss1/art7
• [13] Praca zbiorowa pod redakcją Sz ymczak M., Słownik języka polskiego, PWN, Warszawa 1979, tom II, str.199.
• [14] Ruszel P., Model źródła zakłóceń, reprezentujący łącznik i zaburzenie wywołane jego przełączeniem, w prostym układzie PRZEGLĄD ELEKTROTECHNICZNY (Electrical Review), ISSN 0033-2097, R. 86 NR 3/2010 171 elektrycznym, Przegląd Elektrotechniczny, R 83, no 9, 2007, str. 108 – 110
• [15] Ruszel P., Koncepcja testowania kluczy elektronicznych, umożliwiająca określenie ich właściwości, jako elementów wpływających na generację zakłóceń elektromagnetycznych, MKM 2007, Łódź 24 - 26 wrzesień 2007. Materiały elektroniczne
• [16] Ruszel P. , Metrological aspects in measurements of a spectrum generated as the result of switching an electric circuit, Metrology and Measurement Systems, vol. XIV, number 2, 2007, pp. 241-255
• [17] ”Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods Part 1, Radio disturbance and immunity measuring apparatus”. International Electrotechnical Commission, Geneva, Swiderland, CISPR-16-1
• [18] ”Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods Part 2, Radio disturbance and immunity measuring apparatus”. International Electrotechnical Commission, Geneva, Swiderland, CISPR-16-2
• [19] Krug F. and Russer P., “The Time-Domain Electromagnetic Interference Measurement System,” IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility Volume 45, no. 2 (2003), pp. 330–338