Wpływ zaburzeń elektrycznych na funkcjonowanie mikrokontrolera DSP i transmisję danych w standardzie EIA232

• Autorzy: Kaczmarek M. , Piotrowski A. , Brodecki D.

Warianty tytułu

EN

The influence of electrical disturbances on operation of DSP microcontroller and data transmission in EIA232 standard

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Badania odporności na zaburzenia w postaci serii szybkich elektrycznych stanów przejściowych, przeprowadzono na podstawie normy PN-EN 61000-4-4, na zestawie demonstracyjnym mikrokontrolera MP56F8025 z interfejsem EIA232. Zaburzenia elektryczne spowodowały chwilową utratę funkcjonalności układu oraz błędy w transmisji danych, które ustąpiły po zakończeniu ich generacji. Ograniczenie tego wpływu jest możliwe poprzez zmianę konfiguracji układów peryferyjnych mikrokontrolera i pozwala na normalne działania układu.

EN

Electrical fast transient / burst immunity test was based on the standard IEC 61000-4-4 on demo board of MP56F8025 microcontroller with serial communication interface compatible with EIA232 standard. Electrical disturbances caused temporary lose of functionality of the printed circuit board and errors in transmission of data, which subsided after termination of its generation. Reduction of this influence is possible by proper configuration of peripheral circuits of microcontroller and enables normal operation of the device.

Słowa kluczowe

PL

zaburzenia elektromagnetyczne; szybkie stany przejściowe; EMC; mikrokontroler DSP

EN

EMC; electrical fast transient - Burst; microcontroller DSP; electromagnetic disturbance

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2010
• Tom: R. 86, nr 3
• Strony: 126--128
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Kaczmarek M.

autor

Piotrowski A.

autor

Brodecki D.

• Politechnika Łódzka Katedra Elektrotechniki Ogólnej i Przekładników ul. Stefanowskiego 18/22 Łódź,

Bibliografia

• [1] Kompatybilność elektromagnetyczna. Metody badań i pomiarów. Badanie odporności na serie szybkich elektrycznych stanów przejściowych, PN-EN 61000-4-4, PKN, 2005
• [2] Kołodziejski J. F., Daniluk T., Szermer M., Szczęsny J., Badania odporności układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne impulsowe, Przegląd Elektrotechniczny, 9 (2007), ss. 18-20
• [3] Sakthivel K. N., Sisir K. Das. Kini K. R., EMI Mitigation Techniques in a Microcontroller Based Water Purification System – A Case Study, Proceedings of INCEMIC 2003, 2005, ss. 115 – 118
• [4] MC56F8025 data sheet – www.freescale.com, 2007
• [5] Cerri G., Leo R., Primiani V., Electrical Fast-Transient Test: Conducted and Radiated Disturbance Determination by a Complete Source Modeling, IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, vol. 43, no. 1, 2001
• [6] Kompatybilność elektromagnetyczna. Urządzenia informatyczne. Charakterystyki odporności – Metody pomiaru i dopuszczalne poziomy, PN-EN 55024, PKN, 2000
• [7] Dipak L., Valdis V.: Applied Electromagnetic and Electromagnetic Compatibility. Wiley&Sons 2006
• [8] Goedbloed J.: Electromagnetic Compatibility. Prentice Hall International 1994
• [9] Kaczmarek M., Piotrowski A., Stanowisko pomiarowe do badania odporności na zakłócenia EM szeregowej transmisji danych na przykładzie USB, Konferencja DMCS, 2005