System do kontroli jakości kondensatorów przeciwzakłóceniowych

• Autorzy: Kornacki W. , Kozłowski T. , Machalica P. , Studziński P. , Zając J.

Warianty tytułu

EN

System applied for testing of noise suppressing capacitors

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W referacie opisany jest system przeznaczony do testowania kondensatorów przeciwzakłóceniowych. W referacie opisano składowe systemu: podsystem pomiarowy, podsystem mechatroniczny i podsystem informatyczny. Przedstawiono główne problemy związane z jakością testowania oraz sposoby ich rozwiązania.

EN

This paper presents system applied for testing of noise suppressing capacitors. The system components like measurement, mechatronic and control subsystems have been described. The main problems related to quality testing together with solutions for their solving have been described.

Słowa kluczowe

PL

kontakty teleskopowe; układ kontroli kontaktów; mechatronika; sterowniki PLC

EN

spring contacts; contact checking modules; mechatronic; PLC controllers

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2009
• Tom: R. 85, nr 2
• Strony: 59--62
• Opis fizyczny: rys., wykr.

Twórcy

autor

Kornacki W.

autor

Kozłowski T.

autor

Machalica P.

autor

Studziński P.

autor

Zając J.

• Instytut Tele-i Radiotechniczny,

Bibliografia

• [1] Kern J., Machalica P.: Wybrane metody i środki zwiększania niezawodności projektowanych przemysłowych systemów pomiarowych, Szkoła-Konferencja „Metrologia wspomagana komputerowo”, Waplewo (2005), Materiały konferencyjne.
• [2] Machalica P. i in.: Wielostykowa głowica pomiarowa z układami kontroli kontaktów, Etap 2 - Projekt i wykonanie modelu głowicy oraz układów kontroli kontaktów, sprawozdanie PIE, Warszawa, grudzień 2004.
• [3] Studziński P., Machalica P.: Wybrane aspekty budowy modułów pomiarowych przeznaczonych do testowania filtrów przeciwzakłóceniowych RLC, XXXVIII Międzyuczelniana Konferencja Metrologów, Warszawa-Rynia 2006, opublikowane w Pomiary Automatyka Kontrola (2006) nr 9 bis, 172-175.
• [4] Kern J., Kopera W., Kozłowski T., Machalica P., Młynarski B., Woźniak R.: Systemy pomiarowo-informatyczne w zastosowaniach przemysłowych, Elektronika (2006), nr 7, 21-25.