Transparentne testowanie pamięci RAM

• Autorzy: Busłowska E. , Brzozowski M. , Mrozek I.

Warianty tytułu

EN

Transparent testing of RAMs

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Omówiono strategię testowania pamięci RAM w oparciu o testy krokowe i analizę sygnatur, stosowaną w fazie produkcji oraz podczas eksploatacji.

EN

The paper presents strategy of testing of RAMs, based on stepping tests and signature analysis, used on produetion and operating level.

Słowa kluczowe

PL

pamięć RAM; testowanie transparentne; wyliczanie sygnatur

EN

calculation of signatures; transparent testing; RAM

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Wiadomości Elektrotechniczne
• Rocznik: 2006
• Tom: nr 7
• Strony: 25--28
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Busłowska E.

autor

Brzozowski M.

autor

Mrozek I.

• Instytut Informatyki Politechniki Białostockiej

Bibliografia

• [1] Burns A., Wellings A.: Real time systems and programming languages. Addision Wesley Longmain, Wokingham 2001
• [2] Lewis D.W.: Fundamentals of embedded software. Printice Hall, Londyn 2002
• [3] van de Goor A.J.: Testing semiconductor memories, theory and practice. Chichester, John Wiley& Sons, 1991
• [4] Hławiczka A.: Rejestry liniowe – analiza, synteza i zastosowania w testowaniu układów cyfrowych. Skrypt Politechniki Śląskiej nr 1370, seria Elektronika 1997 z. 9
• [5] Buslowska E., Yarmolik V.N.: Two- dimensionalcompaction techniques for RAM BIST. International EAST- WEST Design& Test Workshop EWDTW’04, 2004
• [6] Nicolaidis M.: Transparent BIST for RAMs. Int. test Conference, Baltimore 1992
• [7] Mrozek I., Yarmolik V.N.: Detection of pattern sensitive faults based on transparent march tests. Mixed Design of Integrated Circuits and Systems MIXDES’ 03, 2003
• [8] Yarmolik V., Hellebrand S., Wunderlich H.J.: Symmetric transparent BIST for RAMs. Design and Test in Europe DATE’ 99, Munich1999