Badania mikrostruktury powierzchni osadzanych chemicznie matryc SiO2 jako nośników funkcjonalnych elementów optoelektroniki

• Autorzy: Kamljuk T. , Lugin V. , Zarskij I. , Koltunowicz T.

Warianty tytułu

EN

Investigations of a microrelief of a surface of chemically deposited matrixes SiO2 – carriers of functional elements for optoelectronics

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy zbadano strukturalne i optyczne właściwości cienkowarstwowych matryc na bazie SiO2 wytworzonych techniką zol-żel używanych do wykrywania amoniaku. Określono związek pomiędzy właściwościami strukturalnymi oraz odpowiedzią optyczną przy detekcji amoniaku. Wykazano możliwość zastosowania wytworzonych warstw w analizatorach gazów.

EN

The paper present structural and optical properties of thin-layer matrices on base SiO2 formed by sol-gel technology was used to detect ammonia. Relations between structural properties and optical response at ammonia detection was determined. Chance of application of created layers in the gas analyzer was showed.

Słowa kluczowe

PL

matryca SiO2; technika zol-żel; czujnik optyczny; amoniak

EN

SiO2 matrix; sol-gel technology; optic sensor; ammonia

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2010
• Tom: R. 86, nr 7
• Strony: 276--277
• Opis fizyczny: Bibliogr. 1 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Kamljuk T.

autor

Lugin V.

autor

Zarskij I.

autor

Koltunowicz T.

• Belorusskij Gosudarstviennyj Technologiczeskij Universitet ul.Serblova 13a Minsk,

Bibliografia

• [1] Kamluk T., Luhin V., Zharsky I . , Kołtunowicz T., Zukowski P. , Structural and optical properties of thin layer matrices on base SiO2 alloted to detect of ammonia. 10-th Scientific Conference Optoelectronic and Electronic Sensor (COE 2008), June 22-25, 2008, Poznan, Poland,11-15