Wykorzystanie sygnału oscylacyjnego przetwornika indukcyjnościowego do określania struktury materiałów

• Autorzy: Janiczek R. , Pisarek J. , Wojciechowski A.

Warianty tytułu

EN

The use of oscillation signal fro inductive transducer to define the material structures

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono wykorzystanie sygnału oscylacyjnego przetwornika indukcyjnościowego do określania struktury materiałów. Istnieje wówczas możliwość określenia właściwości badanego materiału. Przy miniaturyzacji przetwornika pomiarowego i odpowiedniej obróbki sygnału można założyć, że zaistnieje możliwość badania struktur warstwy wierzchniej badanego materiału z równoczesnym określeniem i przestrzennego rozmieszczenia.

EN

In paper is presented the use of oscillation signal from inductive transducer to define the material structures. There can be defining abil in examine material. By using miniaturę measure transducer and suitable signal treatment it can be assumption that structure define possibility surface layer in examine materiał with simultaneous determine of their spatial distribution will be define.

Słowa kluczowe

PL

przetworniki indukcyjne; sygnały pomiarowe przetworników; określanie struktury materiałów

EN

inductive transducers; research of materials; measure signals of transducers

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Przegląd Elektrotechniczny
• Rocznik: 2007
• Tom: R. 83, nr 1
• Strony: 82--85
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Janiczek R.

autor

Pisarek J.

autor

Wojciechowski A.

• Politechnika Częstochowska,

Bibliografia

• [1] Lewińska-Romicka A., Pomiary grubości powłok, Biuro Gamma, Warszawa 2001
• [2] Bronkiewicz A., Janiczek R., Pomiary grubości nieferromagnetycznych warstw wierzchnich umieszczonych na podłożu ferromagnetycznym, Materiały konferencyjne - II Konferencja Naukowo-Techniczna Metody i Systemy Komputerowe w Automatyce i Elektronice, Częstochowa/Poraj, (1997),139-141
• [3] Baniukiewicz P., Sikora R., Metody rozwiązywania zagadnień odwrotnych w defektoskopii wiropradowej, Przegląd Elektrotechniczny, 82 (2006), nr.1, 7-11
• [4] Djakin V.V., Sandovskij V. A., Teorija i rascet nakladnych vichretokovych preobrazovatelej, Nauka, Moskva 1981
• [5] Janiczek R., Problemy związane z oszacowaniem dokładności w pomiarach pośrednich, Pomiary Automatyka Kontrola, (1999), n.3, 9-11